Spectroscopic Analysis of the Nir Emission in Tm Implanted Alxga1-Xn Layers

AuthID
 P-00K-V1K
10
Author(s)
Fialho, M
·
Esteves, TC
·
Tipo de Documento
Article
Year published
2016
Publicado
in JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, ISSN: 0021-8979
Volume: 120, Número: 8, Páginas: 081701 (11)
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Wos®
Scopus®
Crossref®2
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Publication Identifiers
SCOPUS: 2-s2.0-84985036710
Wos: WOS:000383913400001
Source Identifiers
ISSN: 0021-8979
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