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Role of the Electrode Material on the Reset Limitation in Oxide Reram Devices
AuthID
P-00N-KPE
6
Author(s)
Schoenhals, A
·
Rosario, CMM
·
Hoffmann Eifert, S
·
Waser, R
·
Menzel, S
·
Wouters, DJ
Tipo de Documento
Article
Year published
2018
Publicado
in
ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS,
ISSN: 2199-160X
Volume: 4, Número: 2
Indexing
Wos
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1002/aelm.201700243
Wos
: WOS:000424888600002
Source Identifiers
ISSN
: 2199-160X
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