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On the Drain-To-Source Capacitance of Microwave Fets in Triode Region
AuthID
P-00X-AJ8
3
Author(s)
Gomes, JL
·
Nunes, LC
·
Pedro, JC
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2022
Publicado
in
2022 IEEE/MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM (IMS 2022)
in
IEEE MTT-S International Microwave Symposium,
ISSN: 0149-645X
Volume: 2022-June, Páginas: 333-335 (3)
Conference
Ieee/Mtt-S International Microwave Symposium (Ims),
Date:
JUN 19-24, 2022,
Location:
Denver, CO,
Patrocinadores:
IEEE,IEEE Microwave Theory & Tech Soc,RFIC,ARFTG,Analog Devices,Qorvo,Amplitech Grp,Rohde & Schwarz,Anokiwave,Cacence,Eravant,GlobalFoundries,Macom,MouryMicrowave,Millimeter Wave Prod Inc,Wolfspeed,XMA
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/ims37962.2022.9865343
SCOPUS
: 2-s2.0-85130229100
Wos
: WOS:000862782300084
Source Identifiers
ISSN
: 0149-645X
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