Instituto Superior de Engenharia de Coimbra (ISEC)
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 3814
132 Team MembersFilters -> Year: 2025
AUTORES: Agakishiev, G; Behnke, C; Belver, D; Belyaev, A; Berger Chen, JC; Blanco, A; Blume, C; Böhmer, M; Cabanelas, P; Chernenko, S; Dritsa, C; Dybczak, A; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, O; Fonte, P ; Friese, J; Fröhlich, I; Galatyuk, T; Garzón, JA; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 21st International Baldin Seminar on High Energy Physics Problems, ISHEPP 2012 in Proceedings of Science, VOLUME: 2012-January
AUTORES: Susana Meneses ; Adelino Ferreira;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 15th Meeting of the Euro-Working-Group-on-Transportation (EWGT) in PROCEEDINGS OF EWGT 2012 - 15TH MEETING OF THE EURO WORKING GROUP ON TRANSPORTATION, VOLUME: 54, PÁGINAS: 956-965
AUTORES: Gómez Cadenas, JJ ; Martín Albo, J; Monrabal, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 7, NÚMERO: 11
AUTORES: Alvarez, V; Borges, FIGM; Carcel, S; Carmona, JM; Castel, J; Catala, JM; Cebrian, S; Cervera, A; Chan, D; Conde, CAN; Dafni, T; Dias, THVT ; Diaz, J; Egorov, M; Esteve, R; Evtoukhovitch, P; Fernandes, LMP; Ferrario, P; Ferreira, AL; Ferrer Ribas, E; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 7, NÚMERO: 6
AUTORES: Ferrario, P ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 7, NÚMERO: 11
AUTORES: Borrego, LP ; Antunes, FV ; Costa, JD ; Ferreira, JM ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 18th European Conference on Fracture (ECF) in ENGINEERING FRACTURE MECHANICS, VOLUME: 95, PÁGINAS: 57-71
AUTORES: José L F Martinho ;
PUBLICAÇÃO: 2012
AUTORES: Paulo Martins; Miguel Couceiro ; Nuno C Ferreira; Rui Ferreira Marques; Paulo Fonte ; Luis Mendes; Paulo Crespo;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE Nuclear Science Symposium / Medical Imaging Conference Record (NSS/MIC) / 19th Room-Temperature Semiconductor X-ray and Gamma-ray Detector Workshop in 2012 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM AND MEDICAL IMAGING CONFERENCE RECORD (NSS/MIC), PÁGINAS: 2440-2444
AUTORES: Martins, P; Miguel Couceiro ; Ferreira, NC; Marques, RF; Fonte, P ; Mendes, L; Crespo, P;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference Record, NSS/MIC 2012 in IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, PÁGINAS: 2440-2444
AUTORES: Cunha, JC ; Barbosa, R; Rodrigues, G;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2012 IEEE 23rd International Symposium on Software Reliability Engineering, ISSRE 2012 in Proceedings - International Symposium on Software Reliability Engineering, ISSRE, PÁGINAS: 341-350
AUTORES: Amaral, AMR ; Cardoso, AJM ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IET POWER ELECTRONICS, VOLUME: 5, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 315-322
AUTORES: João P F Trovão ;
PUBLICAÇÃO: 2012
AUTORES: Cardoso, JS ; Sousa, R; Inês Domingues ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 11th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications, ICMLA 2012 in 2012 11TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MACHINE LEARNING AND APPLICATIONS (ICMLA 2012), VOL 1, VOLUME: 1, PÁGINAS: 473-477
AUTORES: Capitao, SD ; Picado Santos, LG ; Martinho, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: CONSTRUCTION AND BUILDING MATERIALS, VOLUME: 36, PÁGINAS: 1016-1024
AUTORES: Blanco, A; Fonte, P ; Lopes, L; Koenig, W; Garzon, JA; Kornakov, G;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 11th Workshop on Resistive Plate Chambers and Related Detectors, RPC 2012 in Proceedings of Science, VOLUME: 2012-February
AUTORES: L.G. Dias; Ana C Veloso ; Adélio A Machado; António M Peres;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IMCS 2012 – The 14th International Meeting on Chemical Sensors
AUTORES: Pedro Amaro, JP ; Fernando J T E Ferreira; Rui Cortesao; Jorge Landeck;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 4th Conference on ENTERprise Information Systems (CENTERIS) - Aligning Technology, Organizations and People / International Conference on Health and Social Care Information Systems and Technologies (HCIST) in 4TH CONFERENCE OF ENTERPRISE INFORMATION SYSTEMS - ALIGNING TECHNOLOGY, ORGANIZATIONS AND PEOPLE (CENTERIS 2012), VOLUME: 5, PÁGINAS: 518-526
AUTORES: Agakishiev, G; Balanda, A; Belver, D; Belyaev, A; J.C Berger-Chen; Blanco, A; Böhmer, M; J.L Boyard; Cabanelas, P; Castro, E; Chernenko, S; Christ, T; Destefanis, M; Dohrmann, F; Dybczak, A; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, O; Finocchiaro, P; Fonte, P ; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Nuclear Physics A, VOLUME: 881, PÁGINAS: 178-186
AUTORES: Agakishiev, G; Balanda, A; Belver, D; Belyaev, A; Berger Chen, JC; Blanco, A ; Boehmer, M; Boyard, JL; Cabanelas, P; Castro, E; Chernenko, S; Christ, T; Destefanis, M; Dohrmann, F; Dybczak, A; Epple, E; Fabbietti, L; Fateev, O; Finocchiaro, P; Fonte, P ; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: ECT Workshop on Strange Hadronic Matter in NUCLEAR PHYSICS A, VOLUME: 881, PÁGINAS: 178-186
AUTORES: Veiga, C ; Devim, JP ; Loureiro, AJR ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: REVIEWS ON ADVANCED MATERIALS SCIENCE, VOLUME: 32, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 133-148