Inesc Tecnologia e Ciência (INESC TEC)
Inesc Technology and Science
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 18522
1699 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Martins da d Silva; Cunha, JP ; Guedes da d Oliveira;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Acta Neurologica Scandinavica, VOLUME: 89, NÚMERO: S152, PÁGINAS: 17-19
AUTORES: Luís M B Lopes ; Fernando M A Silva ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: 6th International Conference on Parallel Architectures and Languages Europe, PARLE 1994 in PARLE '94: Parallel Architectures and Languages Europe, 6th International PARLE Conference, Athens, Greece, July 4-8, 1994, Proceedings, VOLUME: 817, PÁGINAS: 827-830
AUTORES: PEREIRA, E; SANTOS, L ; PEREIRA, L; HOFMANN, DM; STADLER, W; MEYER, BK;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: 17th International Conference on Defects in Semiconductors in PROCEEDINGS OF THE 17TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON DEFECTS IN SEMICONDUCTORS, PTS 1-3: ICDS-17, VOLUME: 143-, PÁGINAS: 57-61
AUTORES: Maria Teresa Andrade ; Artur Pimenta Alves;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: International Workshop on COST 237 Multimedia Transport and Teleservices, 1994 in Multimedia Transport and Teleservices, International COST 237 Workshop, Vienna, Austria, November 13-15, 1994, Proceedings, VOLUME: 882, PÁGINAS: 310-321
AUTORES: Brito, P ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: New Approaches in Classification and Data Analysis - Studies in Classification, Data Analysis, and Knowledge Organization, PÁGINAS: 378-386
AUTORES: FERREIRA, JJP ; MENDONCA, JM ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: IFIP WG5.7 Working Conference on Evaluation of Production Management Methods in PRODUCTION MANAGEMENT METHODS, VOLUME: 19, PÁGINAS: 237-244
AUTORES: José Paulo Leal ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Sixth Workshop on Logic Programming Environments, ICLP 1994 post Conference Workshop W4, Technical Report, Institutt for datateknikk og telematikk, Norges
AUTORES: Jorge A Silva ; Aurelio J C Campilho ; Marques dos Santos, JC;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Videometrics II
AUTORES: Leal, F; Oliveira, C; Jorge A Silva; Paula Viana ; Carrapatoso, E;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Video Communications and PACS for Medical Applications
AUTORES: SILVA, EAP ; PEREIRA, FL ; DESOUSA, JB;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: 8TH INTERNATIONAL CONF ON APPLICATIONS OF ARTIFICIAL INTELLIGENCE IN ENGINEERING ( AIENG 93 ) in APPLICATIONS OF ARTIFICIAL INTELLIGENCE IN ENGINEERING VIII, VOL 2: APPLICATIONS AND TECHNIQUES, PÁGINAS: 463-477
AUTORES: DEMATOS, AC ; CUNHA, SR; PEREIRA, FL ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: 19th Annual International Conference on Industrial Electronics, Control and Instrumentation (IECON 93) in PROCEEDINGS OF THE IECON 93 - INTERNATIONAL CONFERENCE ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, CONTROL, AND INSTRUMENTATION, VOLS 1-3: VOL 1: PLENARY SESSION, EMERGING TECHNOLOGIES AND FACTORY AUTOMATION; VOL 2: POWER ELECTRONICS; VOL 3: ROBOTICS, VISION, AND SENSORS: AND SIGNAL PROCESSING AND CONTROL, PÁGINAS: 1454-1459
AUTORES: José Fernando C Oliveira ; José Soeiro S Ferreira ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Lecture Notes in Economics and Mathematical Systems - Applied Simulated Annealing, PÁGINAS: 255-273
AUTORES: CUNHA, SR; DEMATOS, AC ; PEREIRA, FL ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: 19th Annual International Conference on Industrial Electronics, Control and Instrumentation (IECON 93) in PROCEEDINGS OF THE IECON 93 - INTERNATIONAL CONFERENCE ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, CONTROL, AND INSTRUMENTATION, VOLS 1-3: VOL 1: PLENARY SESSION, EMERGING TECHNOLOGIES AND FACTORY AUTOMATION; VOL 2: POWER ELECTRONICS; VOL 3: ROBOTICS, VISION, AND SENSORS: AND SIGNAL PROCESSING AND CONTROL, PÁGINAS: 1442-1447
AUTORES: Fernando M A Silva ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: 6th Portuguese Conference on Artificial Intelligence, EPIA 1993 in Progress in Artificial Intelligence, 6th Portuguese Conference on Artificial Intelligence, EPIA '93, Porto, Portugal, October 6-8, 1993, Proceedings, VOLUME: 727, PÁGINAS: 170-182
AUTORES: Gupta, G; Hermenegildo, MV; Costa, VS ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: New Generation Computing, VOLUME: 11, NÚMERO: 3-4, PÁGINAS: 297-321
AUTORES: Silva, EAP ; Pereira, FL ; Borges de Sousa, J ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Proceedings of the 8th International Conference on Applications of Artificial Intelligence in Engineering in Applications of Artificial Intelligence in Engineering, VOLUME: 2, PÁGINAS: 463-477
AUTORES: LAVOURA, L ; SILVA, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: PHYSICAL REVIEW D, VOLUME: 47, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 1117-1126
AUTORES: SILVA, JA ; CAMPILHO, AJC ; DOSSANTOS, JCM;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: 2nd SPIE Conference on Videometrics in VIDEOMETRICS II, VOLUME: 2067, PÁGINAS: 32-42
AUTORES: Vítor Manuel de Morais Santos Costa ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: British Library, EThOS
AUTORES: José Silva Matos; Ana C Leão; João Canas Ferreira ;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: Proceedings IEEE International Test Conference 1993, Designing, Testing, and Diagnostics - Join Them, Baltimore, Maryland, USA, October 17-21, 1993, PÁGINAS: 323-331