Faculdade de Ciências e Tecnologia (FCTUNL)
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 12962
444 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTORES: Lourenco, JMC; Carrapa, RT; Teodoro, OMN ; Moutinho, AMC ; Gleeson, MA; Los, J; Kleyn, AW;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: CHEMICAL PHYSICS LETTERS, VOLUME: 336, NÚMERO: 5-6, PÁGINAS: 431-438
AUTORES: Reinhard Kahle ; Schroeder Heister, P; Stärk, R;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: International Seminar on Proof Theory in Computer Science, PTCS 2001 in Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics), VOLUME: 2183
AUTORES: Almeida, PL; Cidade, MT ; Godinho, MH ; Ribeiro, AC ; Figueirinhas, JL ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 5th European Conference on Liquid Crystals (ECLC 99) in Molecular Crystals and Liquid Crystals Science and Technology, Section A: Molecular Crystals and Liquid Crystals, VOLUME: 351, PÁGINAS: 61-68
AUTORES: Fortunato, E ; Brida, D; Ferreira, I ; Aguas, H ; Nunes, P; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 3rd Symposium O on Thin Film Materials for Large Area Electronics of the E-MRS 2000 Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 383, NÚMERO: 1-2, PÁGINAS: 310-313
AUTORES: Leroy, C; Ferro, MC; Monteiro, RCC ; Fernandes, MHV ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, VOLUME: 21, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 195-202
AUTORES: Reinhard Kahle ; Peter Schroeder-Heister; Robert Stärk;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Lecture Notes in Computer Science
AUTORES: Reinhard Kahle ; Peter Schroeder Heister; Robert F Stärk;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: PTCS, VOLUME: 2183
AUTORES: Godinho, MH ; Martins, AF; Belgacem, MN; Gil, L; Cordeiro, N;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Eurofillers '99 Conference in MACROMOLECULAR SYMPOSIA, VOLUME: 169, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 223-228
AUTORES: Ferreira, I ; Fernandes, FB ; Vilarinho, P ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Amorphous and Heterogeneous Silicon Based Films 2001 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 664
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 2001 MRS Spring Meeting in Materials Research Society Symposium Proceedings, VOLUME: 685, PÁGINAS: 128-133
AUTORES: Nunes, P; Fortunato, E ; Vilarinho, P ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 6th International Conference on Polycrystalline Semiconductors in POLYCRYSTALLINE SEMICONDUCTORS IV MATERIALS, TECHNOLOGIES AND LARGE AREA ELECTRONICS, VOLUME: 80-81, PÁGINAS: 139-143
AUTORES: Lodeiro, C ; Parola, AJ ; Pina, F ; Bazzicalupi, C; Bencini, A; Bianchi, A; Giorgi, C; Masotti, A; Valtancoli, B;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: INORGANIC CHEMISTRY, VOLUME: 40, NÚMERO: 13, PÁGINAS: 2968-2975
AUTORES: J. B R Brilha; Paulo Legoinha ; L. Neves;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Proceedings of the International Conference on New Technologies in Science Education, VOLUME: 1
AUTORES: Baldwin, J; Voegtli, WC; Khidekel, N; Moenne Loccoz, P; Krebs, C; Pereira, AS ; Ley, BA; Huynh, BH; Loehr, TM; Riggs Gelasco, PJ; Rosenzweig, AC; Bollinger, JM;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, VOLUME: 123, NÚMERO: 29, PÁGINAS: 7017-7030
AUTORES: Fernandes, M ; Vygranenko, Y ; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 184, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 408-412
AUTORES: Ramos, A; Boels, IC; de Vos, WM; Santos, H ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: APPLIED AND ENVIRONMENTAL MICROBIOLOGY, VOLUME: 67, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 33-41
AUTORES: Indelicato, P; Rodrigues, GC; Lindroth, E; Ourdane, MA; Parente, F ; Santos, José Paulo ; Patte, P; Bieron, J;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 10th International Conference on the Physics of Highly Charged Ions (HCI 2000) in PHYSICA SCRIPTA, VOLUME: T92, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 327-329
AUTORES: Indelicato, P; Lindroth, E; Beier, T; Bieron, J; Costa, AM ; Lindgren, I; Marques, JP ; Martenson Pendrill, AM; Martins, MC ; Ourdane, MA; Parente, F ; Patte, P; Rodrigues, GC; Salomonson, S; Santos, José Paulo ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Conference on Atomic Physics at Accelerators: Mass Spectrometry (APAC 2000) in HYPERFINE INTERACTIONS, VOLUME: 132, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 349-363
AUTORES: Neves, LAC; Cruz, PJS ; Henriques, AAR ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Conference on Integrity Reliability and Failure in ENGINEERING FAILURE ANALYSIS, VOLUME: 8, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 29-48
AUTORES: Ottosen, LM; Hansen, HK; Ribeiro, AB ; Villumsen, A;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: JOURNAL OF HAZARDOUS MATERIALS, VOLUME: 85, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 291-299