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Augusto Manuel Celorico Moutinho
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R-000-2N2
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1969
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Título Dsc
Results:
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20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 75
1
TÃTULO:
Influence of the patch field on work function measurements based on the secondary electron emission
Full Text
AUTORES:
Bundaleski, N
;
Trigueiro, J
;
Silva, AG
;
Moutinho, AMC
;
Teodoro, OMND
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
113,
NÚMERO:
18
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
13
NO MEU:
ORCID
2
TÃTULO:
Ion-induced fragmentation of imidazolium ionic liquids: TOF-SIMS study
Full Text
AUTORES:
Nenad Bundaleski
; Stefano Caporali; Sergey P Chenakin;
Augusto M C Moutinho
;
Orlando M N D Teodoro
;
Alexander Tolstogouzov
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY,
VOLUME:
353
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
3
TÃTULO:
TOF-SIMS VG Ionex IX23LS: upgrade and application for the urinary stones analysis
Full Text
AUTORES:
Ghumman, CAA
;
Moutinho, AMC
; Santos, A;
Tolstogouzov, A
;
Teodoro, OMND
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
18th International Conferenceon Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XVIII)
in
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS,
VOLUME:
45,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
4
TÃTULO:
Water on TiO2 studied by work function change: adsorption in cycles
Full Text
AUTORES:
Nenad Bundaleski
;
Ana G Silva
;
Bobbie Jean Shaw
;
Orlando Teodoro
;
Augusto Moutinho
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
15th International Conference on Thin Films (ICTF)
in
15TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON THIN FILMS (ICTF-15),
VOLUME:
417,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
5
TÃTULO:
An upgraded TOF-SIMS VG Ionex IX23LS: Study on the negative secondary ion emission of III-V compound semiconductors with prior neutral cesium deposition
Full Text
AUTORES:
Ghumman, CAA
;
Moutinho, AMC
;
Santos, A
;
Teodoro, OMND
;
Tolstogouzov, A
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
258,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
13
NO MEU:
ORCID
6
TÃTULO:
Dynamics of water adsorption on TiO2 monitored by work function spectroscopy
Full Text
AUTORES:
Ana G Silva
;
Nenad Bundaleski
;
Augusto M C Moutinho
;
Orlando M N D Teodoro
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
258,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
9
NO MEU:
ORCID
7
TÃTULO:
Secondary electron emission yield (SEY) in amorphous and graphitic carbon films prepared by PLD
Full Text
AUTORES:
Alberti, M;
Ayouchi, R
; Bhattacharyya, SR;
Bundaleski, N
;
Moutinho, A
;
Teodoro, O
; Aguilera, L; Taborelli, M;
Schwarz, R
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
Symposium B on Amorphous Nanostructure Materials/Fall Meeting of the European-Materials-Research-Society (E-MRS)
in
PHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 9, NO 6,
VOLUME:
9,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
8
TÃTULO:
TOF-SIMS study of cystine and cholesterol stones. Cystine and cholesterol stones
Full Text
AUTORES:
Ghumman, CAA
;
Moutinho, AMC
; Santos, A;
Tolstogouzov, A
;
Teodoro, OMND
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY,
VOLUME:
47,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
12
NO MEU:
ORCID
9
TÃTULO:
TOF-SIMS VG Ionex IX23LS: Upgrade and application for the urinary stones analysis
AUTORES:
Ghumman, CAA
;
Moutinho, AMC
; Santos, A; Tolstogouzov, A;
Teodoro, OMND
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
Surface and Interface Analysis
INDEXADO EM:
Scopus
10
TÃTULO:
Novel Approach to the Semi-Empirical Universal Theory for Secondary Electron Yield
Full Text
AUTORES:
Bundaleski, N
; Shaw, BJ;
Silva, AG
;
Moutinho, AMC
;
Teodoro, OMND
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
SCANNING,
VOLUME:
33,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
2
NO MEU:
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