Universidade de Aveiro (UA)
University of Aveiro
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 22993
923 Team MembersFilters -> Year: 2024
AUTHORS: Pedro, JC ; Carvalho, NB;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: 58th Automatic RF Techniques Group Conference, ARFTG Fall 2001 in 58th ARFTG Conference Digest Fall 2001: RF Measurements for a Wireless World, ARFTG Fall 2001
AUTHORS: de Carvalho, NB ; Pedro, JC ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: IEEE MTT-S International Microwave Symposium in 2001 IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM DIGEST, VOLS 1-3, VOLUME: 3, PAGES: 455-458
AUTHORS: Ananias, D ; Ferreira, A; Rocha, J ; Ferreira, P; Rainho, JP; Morais, C; Carlos, LD ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, VOLUME: 123, ISSUE: 24, PAGES: 5735-5742
AUTHORS: Guedes, M ; Ferro, AC ; Ferreira, JMF ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, VOLUME: 21, ISSUE: 9, PAGES: 1187-1194
AUTHORS: Piloto, PAG ; Real, PMMV ; Franssen, JM;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: 10th International Conference on Computational Methods and Experimental Measurements in COMPUTATIONAL METHODS AND EXPERIMENTAL MEASUREMENTS X, VOLUME: 3, PAGES: 903-914
AUTHORS: Vila Real, PMM ; Franssen, JM;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: Journal of Fire Protection Engineering, VOLUME: 11, ISSUE: 2, PAGES: 112-115
AUTHORS: Cerejeiras, P; Kahler, U ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: NATO Advanced Research Workshop on Clifford Analysis and Its Applications in CLIFFORD ANALYSIS AND ITS APPLICATIONS, VOLUME: 25, PAGES: 49-58
AUTHORS: Gurlebeck, K; Malonek, HR ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: BULLETIN OF THE AUSTRALIAN MATHEMATICAL SOCIETY, VOLUME: 64, ISSUE: 1, PAGES: 33-50
AUTHORS: McCabe, C; Dias, LMB; Jackson, G; Filipe, EJM ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS, VOLUME: 3, ISSUE: 14, PAGES: 2852-2855
AUTHORS: Torres, DFM ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: 6th European Control Conference, ECC 2001 in 2001 European Control Conference, ECC 2001, PAGES: 244-249
AUTHORS: Santos, LO ; Afonso, PAFNA; Castro, JAAM; Oliveira, NMC ; Biegler, LT;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: International Symposium on Advanced Control of Chemical Processes in CONTROL ENGINEERING PRACTICE, VOLUME: 9, ISSUE: 8, PAGES: 847-857
AUTHORS: Saglio, JM; Moreira, J ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: GEOINFORMATICA, VOLUME: 5, ISSUE: 1, PAGES: 71-93
AUTHORS: Marques, CP; Alves, EJ ; McHargue, CJ; Da Silva, MF; Soares, JC ; Correia, R; Soares, MJ ; Monteiro, T;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: Ion Beam Synthesis and Processing of Advanced Materials in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 647
AUTHORS: Rocha, RA; Monteiro, T; Pereira, E; Alves, E ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: GaN and Related Alloys 2000 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 639
AUTHORS: Gaspar, C; Costa, F ; Monteiro, T ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: 3rd International Conference on Materials in Microelectronics in JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, VOLUME: 12, ISSUE: 4-6, PAGES: 269-271
AUTHORS: Andre, PS; Teixeira, AJ; Almeida, T; Pinto, AN ; Pinto, JL; Morgado, F; Pousa, M;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: European Conference on Networks and Optical Communications in LONG-HAUL AND ACCESS NETWORKS, OPTICAL METRO AND WDM, PAGES: 151-158
AUTHORS: Alves, E ; Lorenz, K ; Vianden, R; Boemare, C; Soares, MJ ; Monteiro, T ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: Workshop on Advanced Materials Produced and Analyzed with Ion Beams in MODERN PHYSICS LETTERS B, VOLUME: 15, ISSUE: 28-29, PAGES: 1281-1287
AUTHORS: Andre, PS ; Teixeira, ALJ ; Lima, MJN ; Pinto, JL ; da Rocha, JRF ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: 14th Annual Meeting of the IEEE Lasers-and-Electro-Optics-Society in LEOS 2001: 14TH ANNUAL MEETING OF THE IEEE LASERS & ELECTRO-OPTICS SOCIETY, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS, VOLUME: 1, PAGES: 30-31
AUTHORS: Rodrigues, C; Pinto, JL ;
PUBLISHED: 2001, SOURCE: Conference on Image Matching and Analysis in IMAGE MATCHING AND ANALYSIS, VOLUME: 4552, PAGES: 219-223