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Maria de Fatima Guimaraes Cerqueira
AuthID:
R-000-B1C
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Confirmadas
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Document Source:
All
Document Type:
Todos os Tipos de Documentos
Article (31)
Proceedings Paper (8)
Article in Press (1)
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1991
1990
1989
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 40
31
TÃTULO:
Dielectric function of nanocrystalline silicon with few nanometers (< 3 nm) grain size
Full Text
AUTORES:
Losurdo, M;
Giangregorio, MM
; Capezzuto, P; Bruno, G;
Cerqueira, MF
;
Alves, E
; Stepikhova, M;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
APPLIED PHYSICS LETTERS,
VOLUME:
82,
NÚMERO:
18
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
32
TÃTULO:
Influence of crystals distribution on the photoluminescence properties of nanocrystalline silicon thin films
Full Text
AUTORES:
Cerqueira, MF
; Stepikhova, M; Losurdo, M;
Giangregorio, MM
;
Alves, E
;
Monteiro, T
;
Soares, MJ
;
Boemare, C
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
Conference on Low Dimensional Structures and Devices (LDSD)
in
MICROELECTRONICS JOURNAL,
VOLUME:
34,
NÚMERO:
5-8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
33
TÃTULO:
Interrelation between microstructure and optical properties of erbium-doped nanocrystalline thin films
Full Text
AUTORES:
Losurdo, M;
Cerqueira, MF
;
Alves, E
; Stepikhova, MV;
Giangregorio, MM
; Bruno, G;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society (E-MRS)
in
PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES,
VOLUME:
16,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
34
TÃTULO:
Laser modulated optical reflectance of thin semiconductor films on glass
Full Text
AUTORES:
Fotsing, JLN; Hoffmeyer, M; Chotikaprakhan, S; Dietzel, D; Pelzl, J; Bein, BK;
Cerqueira, F
;
Macedo, F
; Ferreira, JA;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
12th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena (12 ICPPP)
in
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,
VOLUME:
74,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
35
TÃTULO:
The structure and photoluminescence of erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by reactive magnetron sputtering
AUTORES:
Cerqueira, MF
; Losurdo, M; Stepikhova, MV;
Conde, O
; Giangregorio, MM; Pinto, P; Ferreira, JA;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
9th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST 2001)
in
GETTERING AND DEFECT ENGINEERING IN SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY,
VOLUME:
82-84
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
36
TÃTULO:
Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin films
Full Text
AUTORES:
Losurdo, M;
Cerqueira, MF
; Stepikhova, MV;
Alves, E
;
Giangregorio, MM
; Pinto, P;
Ferreira, JA
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
21st International Conference on Defects in Semiconductors
in
PHYSICA B-CONDENSED MATTER,
VOLUME:
308
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
37
TÃTULO:
Structural studies and influence of the structure on the electrical and optical properties of microcrystalline silicon thin films produced by RF sputtering
Full Text
AUTORES:
Cerqueira, MF
;
Ferreira, JA
; Adriaenssens, GJ;
PUBLICAÇÃO:
2000
,
FONTE:
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
370,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
17
NO MEU:
ORCID
38
TÃTULO:
Optical modulation spectroscopy of hydrogenated microcrystalline silicon
Full Text
AUTORES:
Cerqueira, MF
; Jansen, J; Adriaenssens, GJ;
Ferreira, JA
;
PUBLICAÇÃO:
1997
,
FONTE:
Symposium B: Thin Film Materials for Large Area Electronics at the European-Materials-Research-Society 1996 Spring Meeting
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
296,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
39
TÃTULO:
Photoluminescence and structure properties from mu c-Si:H and mu c-Si:H-PS samples
Full Text
AUTORES:
Ventura, PJ;
Cerqueira, MF
;
Carmo, MC
;
Ferreira, JA
;
PUBLICAÇÃO:
1997
,
FONTE:
Symposium B: Thin Film Materials for Large Area Electronics at the European-Materials-Research-Society 1996 Spring Meeting
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
296,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
40
TÃTULO:
OPTICALLY-ACTIVE TRANSITION-METAL DEFECTS IN SILICON
AUTORES:
CARMO, MCD; NAZARE, MH; THOMAZ, MF; CALAO, I;
CERQUEIRA, F
; DAVIES, G;
PUBLICAÇÃO:
1989
,
FONTE:
SYMP ON THE CHARACTERIZATION OF THE STRUCTURE AND CHEMISTRY OF DEFECTS IN MATERIALS
in
CHARACTERIZATION OF THE STRUCTURE AND CHEMISTRY OF DEFECTS IN MATERIALS,
VOLUME:
138
INDEXADO EM:
WOS
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