81
TÍTULO: Raman study of stress effect on Ge nanocrystals embedded in Al2O3  Full Text
AUTORES: Pinto, SRC; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Kashtiban, RJ; Bangert, U; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 518, NÚMERO: 19
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82
TÍTULO: Self-assembling of Ge quantum dots in an alumina matrix
AUTORES: Buljan, M; Pinto, SRC; Rolo, AG ; Martin Sanchez, J; Gomes, MJM ; Grenzer, J; Muecklich, A; Bernstorff, S; Holy, V;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: PHYSICAL REVIEW B, VOLUME: 82, NÚMERO: 23
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83
TÍTULO: Structural study of Si1-xGex nanocrystals embedded in SiO2 films
AUTORES: Pinto, SRC; Kashtiban, RJ; Rolo, AG ; Buljan, M; Chahboun, A ; Bangert, U; Barradas, NP ; Alves, E ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: Symposium on Silicon and Germanium Issues for Future CMOS Devices held at the 2009 E-MRS Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 518, NÚMERO: 9
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84
TÍTULO: Study of the substitution effect of Mn doped in ZnO matrix
AUTORES: Karzazi, O; Chahboun, A ; Rolo, AG; Hlil, EK; Benzakour, N; Bouslykhane, K; Hourmatallah, A; Levichev, S ; Khodorov, A; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 50, NÚMERO: 3
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85
TÍTULO: THERMAL STABILITY OF ENERGY-EMISSION FROM CdTe NANOCRYSTALS EMBEDDED IN SiO2 THIN FILMS  Full Text
AUTORES: Levichev, S ; Chahboun, A ; Rolo, AG ; Conde, O ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: MODERN PHYSICS LETTERS B, VOLUME: 24, NÚMERO: 29
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86
TÍTULO: Absorption and Emission Analysis of RE3+(Sm3+ and Dy3+): Lithium Boro Tellurite Glasses
AUTORES: Sooraj S Hussain; Hungerford, G; El Mallawany, R; Gomes, MJM ; Lopes, MA ; Nasar Ali; Santos, JD ; Buddhudu, S;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
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87
TÍTULO: Ancient Portuguese Ceramic Wall Tiles ("Azulejos"): Characterization of the Glaze and Ceramic Pigments
AUTORES: Pereira, M ; de Lacerda Aroso, T ; Gomes, MJM ; Mata, A; Alves, LC ; Ph. Colomban;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANO RESEARCH, VOLUME: 8
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88
TÍTULO: Electrical Conduction of CdSe Nanocrystals Embedded in Silicon Oxide Films
AUTORES: Levichev, S ; Mamor, M; Rolo, AG ; Pinto, SRC; Khodorov, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
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89
TÍTULO: Fundamental absorption edge and near-absorption edge properties of PLZT thin films  Full Text
AUTORES: Khodorov, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, VOLUME: 206, NÚMERO: 11
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90
TÍTULO: Physical and Optical Characterization of Er3+ Doped Lead-Zinc-Borate Glass
AUTORES: Sooraj S Hussain; Cardoso, PJ; Hungerford, G; Gomes, MJM ; Nasar Ali; Santos, JD ; Buddhudu, S;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
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