Koppole Chandra Sekhar


AuthID: R-000-VVQ

Publicações Confirmadas: 9



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TÍTULO: Effect of bi-layer ratio in ZnO/Al2O3 multilayers on microstructure and functional properties of ZnO nanocrystals embedded in Al2O3 matrix  Full Text
AUTORES: Sekhar, KC ; Levichev, S ; Buljan, M; Bernstorff, S; Koppole Kamakshi ; Chahboun, A ; Almeida, A ; Agostinho Moreira, JA ; Pereira, M; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, VOLUME: 115, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 7
NO MEU: ORCID
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TÍTULO: Effect of rapid thermal annealing on texture and properties of pulsed laser deposited zinc oxide thin films
AUTORES: Sekhar, KC ; Levichev, S ; Kamakshi, K ; Doyle, S; Chahboun, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: MATERIALS LETTERS, VOLUME: 98
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID
3
TÍTULO: Effects of oxygen partial pressure on the ferroelectric properties of pulsed laser deposited Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films  Full Text
AUTORES: Silva, JPB; Sekhar, KC ; Almeida, A ; Agostinho Moreira, JA ; Pereira, M; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, VOLUME: 113, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 7
NO MEU: ORCID
4
TÍTULO: Ferroelectric properties of pulsed laser deposited PZT (92/8) thin films  Full Text
AUTORES: Silva, JPB; Rodrigues, SAS; Sekhar, KC ; Pereira, M; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, VOLUME: 24, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
5
TÍTULO: Influence of laser repetition rate on ferroelectric properties of pulsed laser deposited BaTiO3 films on platinized silicon substrate  Full Text
AUTORES: Silva, JPB; Sekhar, KC ; Almeida, A ; Agostinho Moreira, JA ; Pereira, M ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, VOLUME: 113, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 12
NO MEU: ORCID
6
TÍTULO: On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films integrated on Pt-Si and its effect on the electrical properties  Full Text
AUTORES: Silva, JPB; Sekhar, KC ; Rodrigues, SAS; Pereira, M; Parisini, A; Alves, E ; Barradas, NP ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society (E-MRS) / Symposium N / Symposium O / Symposium V on Laser Materials Processing for Micro and Nano Applications in APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 278
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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