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Andreas Kling
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R-000-1R6
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Article (83)
Proceedings Paper (8)
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1995
1994
1993
1992
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 91
11
TÃTULO:
Combined grazing incidence RBS and TEM analysis of luminescent nano-SiGe/SiO2 multilayers
Full Text
AUTORES:
Kling, A
;
Rodriguez, A
;
Sangrador, J
; Ortiz, MI; Rodriguez, T; Ballesteros, C;
Soares, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
18th International Conference on Ion Beam Analysis
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
266,
NÚMERO:
8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
12
TÃTULO:
Nanostructures with Group IV Nanocrystals Obtained by LPCVD and Thermal Annealing of SiGeO Layers
AUTORES:
Morana, B; Rodriguez, A; Sangrador, J; Rodriguez, T; Martinez, O; Jimenez, J;
Kling, A
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
Symposium on Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology held at the 2008 MRS Spring Meeting
in
AMORPHOUS AND POLYCRYSTALLINE THIN-FILM SILICON SCIENCE AND TECHNOLOGY-2008,
VOLUME:
1066
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
13
TÃTULO:
Comparative study of the luminescence of structures with Ge nanocrystals formed by dry and wet oxidation of SiGe films
Full Text
AUTORES:
Rodriguez, A; Ortiz, MI; Sangrador, J; Rodriguez, T; Avella, M; Prieto, AC; Torres, A; Jimenez, J;
Kling, A
; Ballesteros, C;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
NANOTECHNOLOGY,
VOLUME:
18,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
14
TÃTULO:
Lattice site investigation of F in preamorphized Si
AUTORES:
Bernardi, F; Dos Santos, JHR; Behar, M;
Kling, A
;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
PHYSICAL REVIEW B,
VOLUME:
76,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
15
TÃTULO:
Luminescence in multilayers of SiGe nanocrystals embedded in SiO2
AUTORES:
Avella, M; Prieto, AC; Jimenez, J; Rodriguez, A; Sangrador, J; Rodriguez, T; Ortiz, MI; Ballesteros, C;
Kling, A
;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
Symposium on Group 4 Semiconductor Nanostructures held at the 2006 MRS Fall Meeting
in
Group IV Semiconductor Nanostructures-2006,
VOLUME:
958
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
16
TÃTULO:
Optimization of the luminescence emission in nanocrystalline SiGe/SiO2 multilayers
Full Text
AUTORES:
Rodriguez, A; Ortiz, M; Sangrador, J; Rodriguez, T; Avella, M; Prieto, AC; Jimenez, J;
Kling, A
; Ballesteros, C;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
7th International Conference on Trends in Nanotechnology (TNT 2006)
in
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE,
VOLUME:
204,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
17
TÃTULO:
Combined RBS and TEM characterization of nano-SiGe layers embedded in SiO2
Full Text
AUTORES:
Kling, A
; Ortiz, MI;
Sangrador, J
; Rodriguez, A; Rodriguez, T; BallesteroS, C;
Soares, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2006
,
FONTE:
17th International Conference on Ion Beam Analysis
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
249,
NÚMERO:
1-2 SPEC. ISS.
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
18
TÃTULO:
Dosimetry at the Portuguese research reactor using thermoluminescence measurements and Monte Carlo calculations
AUTORES:
Fernandes, AC
;
Goncalves, IC
; Santos, J;
Cardoso, J
;
Santos, L
; Ferro Carvalho, A;
Marques, JG
;
Kling, A
; Ramalho, AJG; Osvay, M;
PUBLICAÇÃO:
2006
,
FONTE:
RADIATION PROTECTION DOSIMETRY,
VOLUME:
120,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
7
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
19
TÃTULO:
Effect of thermal annealing on the optical and structural properties of silicon implanted with a high hydrogen fluence
Full Text
AUTORES:
Kling, A
;
Soares, JC
; Rodriguez, A; Rodriguez, T; Avella, M; Jimenez, J;
PUBLICAÇÃO:
2006
,
FONTE:
14th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM 2004)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
242,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
20
TÃTULO:
Growth by LPCVD, crystallization and characterization of SiGe nanoparticles for nanoelectronic devices
Full Text
AUTORES:
Ortiz, MI;
Sangrador, J
; Rodriguez, A; Rodriguez, T;
Kling, A
;
Franc, N
;
Barradas, NP
; Ballesteros, C;
PUBLICAÇÃO:
2006
,
FONTE:
International Conference on Trends in Nanotechnology
in
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE,
VOLUME:
203,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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