António Manuel Cruz Serra


AuthID: R-000-28E

Publicações Confirmadas: 125



51
TÍTULO: Cross-correlation and sine-fitting techniques for high resolution ultrasonic ranging  Full Text
AUTORES: Queiros, R; Girao, PS; Cruz C Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
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52
TÍTULO: Cross-correlation and sine-fitting techniques for high resolution ultrasonic ranging  Full Text
AUTORES: Queiros, R; Girao, PS; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IMTC'06 - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
53
TÍTULO: Fast ADC testing by repetitive histogram analysis  Full Text
AUTORES: Serra, AC ; Alegria, F ; Michaeli, L; Michalko, P; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IMTC'06 - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
54
TÍTULO: Fast ADC testing by repetitive histogram analysis  Full Text
AUTORES: Serra, AC ; Alegria, F ; Michaeli, L; Michalko, P; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
INDEXADO EM: WOS CrossRef
55
TÍTULO: On the static test of analogue-to-digital converters  Full Text
AUTORES: Antonio Cruz Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 49th IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems in IEEE MWSCAS'06: PROCEEDINGS OF THE 2006 49TH MIDWEST SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, VOL II, VOLUME: 2
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NO MEU: ORCID
56
TÍTULO: Simulation and experimental results of multiharmonic least-squares fitting algorithms applied to periodic signals
AUTORES: Ramos, PM ; da Silva, MF; Martins, RC ; Serra, AMC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 55, NÚMERO: 2
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NO MEU: ORCID
57
TÍTULO: The histogram test of ADCs is unbiased by phase noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IMTC'06 - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
58
TÍTULO: The histogram test of ADCs is unbiased by phase noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
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59
TÍTULO: Uncertainty of estimates obtained with the histogram test of ADCS
AUTORES: Alegria, FC; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 18th IMEKO World Congress 2006: Metrology for a Sustainable Development in 18th IMEKO World Congress 2006: Metrology for a Sustainable Development, VOLUME: 3
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NO MEU: ORCID
60
TÍTULO: Uncertainty of the estimates of sine wave fitting of digital data in the presence of additive noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
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