António Manuel Cruz Serra


AuthID: R-000-28E

Publicações Confirmadas: 125



61
TÍTULO: Uncertainty of the estimates of sine wave fitting of digital data in the presence of additive noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
INDEXADO EM: WOS CrossRef
62
TÍTULO: A methodology for extracting unknown integrated circuit process parameters
AUTORES: Quaresma, HJ; Santos, PM ; Serra, AC ; Sicard, E;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 12th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, ICECS 2005 in Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
63
TÍTULO: Combined spectral and histogram analysis for fast ADC testing
AUTORES: Serra, AC ; da Silva, MF; Ramos, PM ; Martins, RC ; Michaeli, L; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 54, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
64
TÍTULO: DSP based portable impedance measurement instrument using sine-fitting algorithms
AUTORES: Radil, T; Ramos, PM ; Cruz Serra, A ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IMTC'05 - Proceedings of the IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
65
TÍTULO: Effective ADC linearity testing using sinewaves
AUTORES: Alegria, FAC ; Moschitta, A; Carbone, P; Serra, AMDC ; Petri, D;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, VOLUME: 52, NÚMERO: 7
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
66
TÍTULO: Error correction technique for dynamic impedance measurement
AUTORES: Quaresma, HJ; Silva, AP; Serra, AMC ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 54, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
67
TÍTULO: Overdrive in the ramp histogram test of ADCs
AUTORES: Alegria, FAC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 54, NÚMERO: 6
INDEXADO EM: Scopus WOS
68
TÍTULO: Precision of ADC gain and offset error estimation with the standard histogram test
AUTORES: Alegria, FC; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IMTC'05 - Proceedings of the IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 1
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
69
TÍTULO: Uncertainty of ADC random noise estimates obtained with the IEEE 1057 standard test
AUTORES: Alegria, FAC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 54, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS
70
TÍTULO: A new four parameter sine fitting technique  Full Text
AUTORES: da Silva, MF; Ramos, PM ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 7th Workshop on ADC Modelling and Testing in MEASUREMENT, VOLUME: 35, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
Página 7 de 13. Total de resultados: 125.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service