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Eduardo Jorge da Costa Alves
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1984
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 597
441
TÃTULO:
Implantation site of rare earths in single-crystalline ZnO
Full Text
AUTORES:
Wahl, U
;
Rita, E
;
Correia, JG
;
Alves, E
;
Araújo, JP
;
The ISOLDE Collaboration,
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
APPLIED PHYSICS LETTERS,
VOLUME:
82,
NÚMERO:
8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
50
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
442
TÃTULO:
Influence of crystals distribution on the photoluminescence properties of nanocrystalline silicon thin films
Full Text
AUTORES:
Cerqueira, MF
; Stepikhova, M; Losurdo, M;
Giangregorio, MM
;
Alves, E
;
Monteiro, T
;
Soares, MJ
;
Boemare, C
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
Conference on Low Dimensional Structures and Devices (LDSD)
in
MICROELECTRONICS JOURNAL,
VOLUME:
34,
NÚMERO:
5-8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
443
TÃTULO:
Influence of ionizing radiation on the electrical behavior of a Be pebble bed
Full Text
AUTORES:
Alves, E
;
da Silva, MR
;
Alves, LC
;
Marques, JG
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
22nd Symposium on Fusion Technology
in
FUSION ENGINEERING AND DESIGN,
VOLUME:
69,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
444
TÃTULO:
Interrelation between microstructure and optical properties of erbium-doped nanocrystalline thin films
Full Text
AUTORES:
Losurdo, M;
Cerqueira, MF
;
Alves, E
; Stepikhova, MV;
Giangregorio, MM
; Bruno, G;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society (E-MRS)
in
PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES,
VOLUME:
16,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
445
TÃTULO:
Lattice location and optical activation of rare earth implanted GaN
Full Text
AUTORES:
Wahl, U
;
Alves, E
;
Lorenz, K
;
Correia, JG
;
Monteiro, T
; De Vries, B; Vantomme, A; Vianden, R;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
Meeting of the European-Materials-Research-Society (EMRS)
in
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY,
VOLUME:
105,
NÚMERO:
1-3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
36
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
446
TÃTULO:
Lattice site and stability of implanted Ag in ZnO
Full Text
AUTORES:
Rita, E
;
Wahl, U
;
Lopes, AML
;
Araujo, JP
;
Correia, JG
;
Alvesa, E
;
Soares, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
22nd International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-22)
in
PHYSICA B-CONDENSED MATTER,
VOLUME:
340
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
21
NO MEU:
ORCID
447
TÃTULO:
Lattice site location and optical activity of Er implanted ZnO
Full Text
AUTORES:
Alves, E
;
Rita, E
;
Wahl, U
;
Correia, JG
;
Monteiro, T
;
Soares, J
;
Boemare, C
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
13th International Conference on Ion Beam Modification of Materials
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
206
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
53
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
448
TÃTULO:
Lattice site location studies of rare-earths implanted in ZnO single-crystals
AUTORES:
Rita, EMC
;
Wahl, U
;
Lopes, AL
;
Araujo, JP
;
Correia, JG
;
Alves, E
;
Soares, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
Symposium on Progress in Semiconductors II - Electronic and Optoelectronic Applications
in
PROGRESS IN SEMICONDUCTORS II- ELECTRONIC AND OPTOELECTRONIC APPLICATIONS,
VOLUME:
744
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
449
TÃTULO:
Magnetic characterization of U/Co multilayers
Full Text
AUTORES:
Rosa, MA
; Diego, M;
Alves, E
;
Barradas, NP
;
Godinho, M
;
Almeida, M
;
Concalves, AP
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
European Conference on Physics of Magnetism
in
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH,
VOLUME:
196,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
450
TÃTULO:
Mechanical characterization of reactively magnetron-sputtered TiN films
Full Text
AUTORES:
Vaz, F
; Machado, P;
Rebouta, L
;
Cerqueira, P
;
Goudeau, P
; Riviere, JP;
Alves, E
; Pischow, K; de Rijk, J;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
8th International Conference on Plasma Surface Engineering
in
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
174
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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