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Eduardo Jorge da Costa Alves
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 597
41
TÃTULO:
TiAgx thin films for lower limb prosthesis pressure sensors: Effect of composition and structural changes on the electrical and thermal response of the films
Full Text
AUTORES:
Lopes, C
;
Goncalves, C
; Pedrosa, P;
Macedo, F
;
Alves, E
;
Barradas, NP
; Martin, N;
Fonseca, C
;
Vaz, F
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
285,
NÚMERO:
PARTA
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
34
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
42
TÃTULO:
Towards the understanding of the intentionally induced yellow luminescence in GaN nanowires
Full Text
AUTORES:
Rodrigues, J
; Miranda, SMC;
Fernandes, AJS
; Nogales, E;
Alves, LC
;
Alves, E
; Tourbot, G; Auzelle, T; Daudin, B; Mendez, B;
Trindade, T
;
Lorenz, K
;
Costa, FM
;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
E-MRS ICAM IUMRS Spring Meeting / Symposium T on Physics and Applications of Novel Gain Materials Based on Nitrogen and Bismuth Containing III-V Compounds
in
PHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, VOL 10, NO 4,
VOLUME:
10,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
6
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
43
TÃTULO:
Wettability and Nanotribological Response of Silicon Surfaces Functionalized by Ion Implantation
AUTORES:
Bruno Nunes
;
Sergio Magalhaes
;
Nuno Franco
;
Eduardo Alves
;
Ana Paula Serro
;
Rogerio Colaco
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
6th International Materials Symposium (MATERIALS 2011)/15th Meeting of SPM
in
ADVANCED MATERIALS FORUM VI, PTS 1 AND 2,
VOLUME:
730-732
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
44
TÃTULO:
AlN content influence on the properties of AlxGa1-xN doped with Pr ions
Full Text
AUTORES:
Fialho, M;
Magalhaes, S
;
Alves, LC
;
Marques, C
; Maalej, R;
Monteiro, T
;
Lorenz, K
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
273
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
3
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
45
TÃTULO:
Analysis of multifunctional titanium oxycarbide films as a function of oxygen addition
Full Text
AUTORES:
Chappe, JM; Fernandes, AC;
Moura, C
;
Alves, E
;
Barradas, NP
; Martin, N; Espinos, JP;
Vaz, F
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
206,
NÚMERO:
8-9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ResearcherID
46
TÃTULO:
Cd ion implantation in AlN
Full Text
AUTORES:
Miranda, SMC
;
Franco, N
;
Alves, E
;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
289
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
47
TÃTULO:
Characterization of nanostructured HfO2 films using RBS and PAC
Full Text
AUTORES:
Cavalcante, FHM
;
Gomes, MR
; Carbonari, AW; Pereira, LFD; Rossetto, DA; Costa, MS;
Alves, E
;
Barradas, NP
;
Franco, N
;
Redondo, LM
;
Lopes, AML
;
Soares, JC
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
20th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
273
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
48
TÃTULO:
Characterization of TiAlSiN/TiAlSiON/SiO2 optical stack designed by modelling calculations for solar selective applications
Full Text
AUTORES:
Rebouta, L
; Capela, P;
Andritschky, M
; Matilainen, A; Santilli, P; Pischow, K;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS,
VOLUME:
105
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
49
TÃTULO:
Damage formation and recovery in Fe implanted 6H-SiC
Full Text
AUTORES:
Miranda, P;
Wahl, U
; Catarino, N;
Lorenz, K
;
Correia, JG
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
16th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
286
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
50
TÃTULO:
Damage formation in GaN under medium energy range implantation of rare earth ions: A combined TEM, XRD and RBS/C investigation
AUTORES:
Lacroix, B; Leclerc, S;
Ruterana, P
; Declemy, A;
Miranda, SMC
;
Lorenz, K
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
2011 MRS Spring Meeting
in
Materials Research Society Symposium Proceedings,
VOLUME:
1342
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
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