181
TÍTULO: Influence of the doping on the lattice sites of Fe in Si  Full Text
AUTORES: Silva, DJ ; Wahl, U; Correia, JG; Araujo, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: 27th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS) in INTERNATIONAL CONFERENCE ON DEFECTS IN SEMICONDUCTORS 2013, VOLUME: 1583
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
182
TÍTULO: Lattice location and thermal stability of implanted nickel in silicon studied by on-line emission channeling  Full Text
AUTORES: Silva, DJ ; Wahl, U; Correia, JG; Pereira, LMC; Amorim, LM; da Silva, MR; Bosne, E; Araujo, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 115, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 14
183
TÍTULO: Local probe studies in the weakly Jahn- Teller distorted LaMnO<sub>3.08</sub> manganite  Full Text
AUTORES: Lopes, AML; Correia, JG ; Amaral, VS ; Araújo, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS, VOLUME: 251, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 5
184
TÍTULO: Local symmetry lowering in CdMn2O4 spinel  Full Text
AUTORES: G. N. P. Oliveira ; Teixeira, R; Mendonca, TM; Silva, MR; Correia, JG; Lopes, AML; Araujo, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 116, NÚMERO: 22
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 11
186
187
TÍTULO: Nanoporous alumina as templates for multifunctional applications
AUTORES: Sousa, CT ; Leitao, DC; Proenca, MP ; Ventura, J ; Pereira, AM ; Araujo, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: APPLIED PHYSICS REVIEWS, VOLUME: 1, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 223
188
TÍTULO: On the stability enhancement of cuprous oxide water splitting photocathodes by low temperature steam annealing  Full Text
AUTORES: Azevedo, J ; Steier, L; Dias, P; Stefik, M; Sousa, CT ; Araujo, JP ; Mendes, A ; Graetzel, M; Tilley, SD;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: ENERGY & ENVIRONMENTAL SCIENCE, VOLUME: 7, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 119
189
TÍTULO: Origin of the lattice sites occupied by implanted Co in Si  Full Text
AUTORES: Silva, DJ ; Wahl, U; Correia, JG; Pereira, LMC; Amorim, LM; da Silva, MR; Araujo, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 29, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 4
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