José Alberto Peixoto Machado da Silva


AuthID: R-000-7Z3

Publicações Confirmadas: 95



81
TÍTULO: Implementation of mixed current/voltage testing using the IEEE P1149.4 infrastructure  Full Text
AUTORES: da Silva, JM ; Leao, AC; Alves, JC ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: International Test Conference 1997 (ITC) in ITC - INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1997, PROCEEDINGS: INTEGRATING MILITARY AND COMMERCIAL COMMUNICATIONS FOR THE NEXT CENTURY
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
82
TÍTULO: Using power supply current monitoring and P1149.4 for parametric testing of passive components
AUTORES: daSilva, JM ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1997 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 97) - Circuits and Systems in the Information Age in ISCAS '97 - PROCEEDINGS OF 1997 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, VOLS I - IV: CIRCUITS AND SYSTEMS IN THE INFORMATION AGE, VOLUME: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
83
TÍTULO: Using power supply current monitoring and P1149.4 for parametric testing of passive components
AUTORES: Machado da Silva, J ; Silva Matos, J ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Proceedings of 1997 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Circuits and Systems in the Information Age ISCAS '97
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
84
TÍTULO: Evaluation of i(DD)/V-OUT cross-correlation for mixed current/voltage testing of analogue and mixed-signal circuits  Full Text
AUTORES: daSilva, JM ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: European Design and Test Conference in EUROPEAN DESIGN & TEST CONFERENCE 1996 - ED&TC 96, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
85
TÍTULO: Evaluation of iDD/vOUT cross-correlation for mixed current/voltage testing of analogue and mixed-signal circuits
AUTORES: Machado Da Silva, J ; Silva Matos, J ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1996 European Conference on Design and Test, EDTC 1996 in Proceedings of the 1996 European Conference on Design and Test, EDTC 1996
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
86
TÍTULO: Mixed current/voltage observation towards effective testing of analog and mixed-signal circuits
AUTORES: DaSilva, JM ; Matos, JS ; Bell, IM; Taylor, GE;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 9, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
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87
TÍTULO: Supply current test of analogue and mixed signal circuits
AUTORES: Bell, IM; Spinks, SJ; daSilva, JM ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: IEE PROCEEDINGS-CIRCUITS DEVICES AND SYSTEMS, VOLUME: 143, NÚMERO: 6
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 21
NO MEU: ORCID
88
TÍTULO: Use of power supply current and output voltage observation for testing large mixed-signal devices
AUTORES: daSilva, JM ; Matos, JS ; Bell, IM; Taylor, GE;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 38th Midwest Symposium on Circuits and Systems in 38TH MIDWEST SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID
89
TÍTULO: CROSS-CORRELATION BETWEEN I(DD) AND V(OUT) SIGNALS FOR TESTING ANALOG CIRCUITS
AUTORES: DASILVA, JM ; MATOS, JS; BELL, IM; TAYLOR, GE;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: ELECTRONICS LETTERS, VOLUME: 31, NÚMERO: 19
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 9
NO MEU: ORCID
90
TÍTULO: Use of power supply current and output voltage observation for testing large mixed-signal devices
AUTORES: Machado M da Silva ; Silva S Matos ; Bell Ian, M; Taylor Gaynor, E;
PUBLICAÇÃO: 1995, FONTE: Proceedings of the 1995 IEEE 38th Midwest Symposium on Circuits and Systems. Part 1 (of 2) in Midwest Symposium on Circuits and Systems, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
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