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Katharina Lorenz
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R-000-90E
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Article (106)
Proceedings Paper (22)
Review (1)
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2005
2004
2003
2002
2001
2000
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 129
11
TÃTULO:
Damage formation and recovery in Fe implanted 6H-SiC
Full Text
AUTORES:
Miranda, P;
Wahl, U
; Catarino, N;
Lorenz, K
;
Correia, JG
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
16th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
286
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
12
TÃTULO:
Damage formation in GaN under medium energy range implantation of rare earth ions: A combined TEM, XRD and RBS/C investigation
AUTORES:
Lacroix, B; Leclerc, S;
Ruterana, P
; Declemy, A;
Miranda, SMC
;
Lorenz, K
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
2011 MRS Spring Meeting
in
Materials Research Society Symposium Proceedings,
VOLUME:
1342
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
13
TÃTULO:
High precision determination of the InN content of Al1-xInxN thin films by Rutherford backscattering spectrometry
Full Text
AUTORES:
Magalhaes, S;
Barradas, NP
;
Alves, E
; Watson, IM;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
273
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
14
TÃTULO:
High pressure annealing of Europium implanted GaN
AUTORES:
Lorenz, K
;
Miranda, SMC
;
Alves, E
; Roqan, IS; O'Donnell, KP; Bockowski, M;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
Conference on Gallium Nitride Materials and Devices VII
in
GALLIUM NITRIDE MATERIALS AND DEVICES VII,
VOLUME:
8262
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
15
TÃTULO:
Ion beams as a tool for the characterization of near-pseudomorphic CdZnO epilayers
AUTORES:
Redondo Cubero, A
; Brandt, M; Henneberger, F;
Alves, E
;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
Conference on Oxide-Based Materials and Devices III
in
OXIDE-BASED MATERIALS AND DEVICES III,
VOLUME:
8263
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
16
TÃTULO:
It's not easy being green: Strategies for all-nitrides, all-colour solid state lighting
Full Text
AUTORES:
O'Donnell, KP
; Auf der Maur, M;
Di Carlo, A
;
Lorenz, K
;
the SORBET consortium,
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
PHYSICA STATUS SOLIDI-RAPID RESEARCH LETTERS,
VOLUME:
6,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
17
TÃTULO:
Mechanisms of damage formation in Eu-implanted AlN
Full Text
AUTORES:
Leclerc, S; Lacroix, B; Declemy, A;
Lorenz, K
;
Ruterana, P
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
112,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
18
TÃTULO:
Rare earth co-doping nitride layers for visible light
Full Text
AUTORES:
Rodrigues, J
;
Miranda, SMC
;
Santos, NF
;
Neves, AJ
;
Alves, E
;
Lorenz, K
;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS,
VOLUME:
134,
NÚMERO:
2-3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
10
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
19
TÃTULO:
Single phase alpha-plane MgZnO epilayers for UV optoelectronics: substitutional behaviour of Mg at large contents
AUTORES:
Redondo Cubero, A
; Hierro, A; M Chauveau;
Lorenz, K
; Tabares, G;
Franco, N
;
Alves, E
; Munoz, E;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
CRYSTENGCOMM,
VOLUME:
14,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
20
TÃTULO:
Unintentional incorporation of H and related structural and free-electron properties of c- and a-plane InN
Full Text
AUTORES:
Darakchieva, V
;
Lorenz, K
; Y Xie;
Alves, E
;
Schaff, WJ
; Yamaguchi, T; Nanishi, Y; Ruffenach, S; Moret, M; Briot, O;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE,
VOLUME:
209,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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