31
TÍTULO: Ge nanocrystals with highly uniform size distribution deposited on alumina at room temperature by pulsed laser deposition: structural, morphological, and charge trapping properties  Full Text
AUTORES: Martin Sanchez, J; Marques, L ; Vieira, EMF; Doan, QT; Marchand, A; El Hdiy, A; Rolo, AG ; Pinto, SRC; Ramos, MMD ; Chahboun, A; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF NANOPARTICLE RESEARCH, VOLUME: 14, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID
32
TÍTULO: Carrier storage in Ge nanoparticles produced by pulsed laser deposition  Full Text
AUTORES: Martin Sanchez, J; Chahboun, A; Gomes, MJM ; Rolo, AG ; Pivac, B; Capan, I;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: PHYSICA STATUS SOLIDI-RAPID RESEARCH LETTERS, VOLUME: 6, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID
33
TÍTULO: Characterization of miocene marl of Fez regions of morocco after doping with MnO2
AUTORES: Mesrar, L; Chahboun, A; Lamcharfi, T; Elbasset, A; Jabrane, ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Clay Research, VOLUME: 31, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
34
TÍTULO: An operative land surface temperature split-window algorithm: Application to the Korean Peninsula pathfinder AVHRR land data
AUTORES: Chahboun, A; Raissouni, N; Sobrino, JA; Essaaidi, M;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 2005 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium, IGARSS 2005 in International Geoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS), VOLUME: 4
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
35
TÍTULO: Towards an operative land surface temperature in-situ measurements system for remote sensing models validations
AUTORES: Chahboun, A; Raissouni, N; Essaaid, M;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 2005 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium, IGARSS 2005 in International Geoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS), VOLUME: 4
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
36
TÍTULO: Ballistic electron emission microscopy studies of ZnSe-BeTe heterojunctions
AUTORES: Chahboun, A; Fink, V; Fleischauer, M; Kavanagh, KL; Lu, RP; Hansen, L; Becker, CR; Molenkamp, LW;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Proceedings of the 29th Conference on the Physics and Chemistry of Semiconductor Interfaces in Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, VOLUME: 20, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
37
TÍTULO: Comparison of strain relaxation in InGaAsN and InGaAs thin films  Full Text
AUTORES: Adamcyk, M; Schmid, JH; Tiedje, T; Koveshnikov, A; Chahboun, A; Fink, V; Kavanagh, KL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Applied Physics Letters, VOLUME: 80, NÚMERO: 23
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 21
NO MEU: ORCID
38
TÍTULO: Controlled modifications of electron injection on Au/Si and Au/SiO2/Si contacts using ballistic electron emission microscopy  Full Text
AUTORES: Chahboun, A; Coratger, R; Pascale, A; Baules, P; Ajustron, F; Zorkani, I; Beauvillain, J;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Journal of Applied Physics, VOLUME: 89, NÚMERO: 11 I
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 2
NO MEU: ORCID
39
TÍTULO: Ballistic electron emission microscopy of Au/n-ZnSe contacts and local density of states spectroscopy
AUTORES: Chahboun, A; Coratger, R; Ajustron, F; Beauvillain, J; Dharmadasa, IM; Samantilleke, AP;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Journal of Applied Physics, VOLUME: 87, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
40
TÍTULO: Hot hole transport through Au/n-Si(100) studied by reverse ballistic electron emission microscopy and spectroscopy  Full Text
AUTORES: Chahboun, A; Coratger, R; Pechou, R; Ajustron, F; Beauvillain, J;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Surface Science, VOLUME: 462, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
Página 4 de 5. Total de resultados: 45.