Mário Manuel Silveira Rodrigues


AuthID: R-000-JYA

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TÍTULO: Probing the elastic properties of individual nanostructures by combining in situ atomic force microscopy and micro-x-ray diffraction  Full Text
AUTORES: Scheler, T; Rodrigues, M; Cornelius, TW; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Comin, F; Chevrier, J; Metzger, TH;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 94, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
32
TÍTULO: In situ observation of the elastic deformation of a single epitaxial SiGe crystal by combining atomic force microscopy and micro x-ray diffraction  Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS; Cornelius, TW; Scheler, T; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Dhez, O; Comin, F; Metzger, TH; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 10
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
33
TÍTULO: X-ray pushing of a mechanical microswing  Full Text
AUTORES: Siria, A; Rodrigues, MS; Dhez, O; Schwartz, W; Torricelli, G; LeDenmat, S; Rochat, N; Auvert, G; Bikondoa, O; Metzger, TH; Wermeille, D; Felici, R; Comin, F; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 19, NÚMERO: 44
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
34
TÍTULO: Local detection of X-ray spectroscopies with an in-situ Atomic Force Microscope
AUTORES: Rodrigues, MS; Dhez, O; Le Denmat, S; Chevrier, J; Felici, R; Comin, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 3, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
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