Mário Manuel Silveira Rodrigues
AuthID: R-000-JYA
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TÃTULO: Integration of an Atomic Force Microscope in a Beamline Sample Environment Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS; Hrouzek, M; Dhez, O; Chevrier, J; Comin, F; Garrett, R; Gentle, I; Nugent, K; Wilkins, S;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation in SRI 2009: THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SYNCHROTRON RADIATION INSTRUMENTATION, VOLUME: 1234
AUTORES: Rodrigues, MS; Hrouzek, M; Dhez, O; Chevrier, J; Comin, F; Garrett, R; Gentle, I; Nugent, K; Wilkins, S;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation in SRI 2009: THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SYNCHROTRON RADIATION INSTRUMENTATION, VOLUME: 1234
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TÃTULO: From ensemble average to single (nano-) objects properties by X-ray microdiffraction: a short review on structure determination (local strain, composition, ... ) and objects manipulation (AFM-coupled)
AUTORES: Mocuta, C; Mundboth, K; Stangl, J; Krause, B; Malachias, A; Th. Scheller; Cornelius, T; Paniago, R; Diaz, A; Rodrigues, M; Chevrier, J; Dhez, O; Metzger, TH; Bauer, G; Barbier, A; Ramos, AV; J Guittet; B Moussy; Stanescu, S; Mattana, R; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: REVUE DE METALLURGIE-CAHIERS D INFORMATIONS TECHNIQUES, VOLUME: 107, NÚMERO: 10-11
AUTORES: Mocuta, C; Mundboth, K; Stangl, J; Krause, B; Malachias, A; Th. Scheller; Cornelius, T; Paniago, R; Diaz, A; Rodrigues, M; Chevrier, J; Dhez, O; Metzger, TH; Bauer, G; Barbier, A; Ramos, AV; J Guittet; B Moussy; Stanescu, S; Mattana, R; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: REVUE DE METALLURGIE-CAHIERS D INFORMATIONS TECHNIQUES, VOLUME: 107, NÚMERO: 10-11
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TÃTULO: Probing the elastic properties of individual nanostructures by combining in situ atomic force microscopy and micro-x-ray diffraction Full Text
AUTORES: Scheler, T; Rodrigues, M; Cornelius, TW; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Comin, F; Chevrier, J; Metzger, TH;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 94, NÚMERO: 2
AUTORES: Scheler, T; Rodrigues, M; Cornelius, TW; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Comin, F; Chevrier, J; Metzger, TH;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 94, NÚMERO: 2
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TÃTULO: In situ observation of the elastic deformation of a single epitaxial SiGe crystal by combining atomic force microscopy and micro x-ray diffraction Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS; Cornelius, TW; Scheler, T; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Dhez, O; Comin, F; Metzger, TH; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 10
AUTORES: Rodrigues, MS; Cornelius, TW; Scheler, T; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Dhez, O; Comin, F; Metzger, TH; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 10
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TÃTULO: X-ray pushing of a mechanical microswing Full Text
AUTORES: Siria, A; Rodrigues, MS; Dhez, O; Schwartz, W; Torricelli, G; LeDenmat, S; Rochat, N; Auvert, G; Bikondoa, O; Metzger, TH; Wermeille, D; Felici, R; Comin, F; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 19, NÚMERO: 44
AUTORES: Siria, A; Rodrigues, MS; Dhez, O; Schwartz, W; Torricelli, G; LeDenmat, S; Rochat, N; Auvert, G; Bikondoa, O; Metzger, TH; Wermeille, D; Felici, R; Comin, F; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 19, NÚMERO: 44
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TÃTULO: Local detection of X-ray spectroscopies with an in-situ Atomic Force Microscope
AUTORES: Rodrigues, MS; Dhez, O; Le Denmat, S; Chevrier, J; Felici, R; Comin, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 3, NÚMERO: 12
AUTORES: Rodrigues, MS; Dhez, O; Le Denmat, S; Chevrier, J; Felici, R; Comin, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 3, NÚMERO: 12
