João Francisco Alves Martins
AuthID: R-000-K7X
291
TÃTULO: NEURAL NETWORKS AND LOGICAL REASONING SYSTEMS: A TRANSLATION TABLE Full Text
AUTORES: JOÃO MARTINS; VILELA V MENDES;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: International Journal of Neural Systems, VOLUME: 11, NÚMERO: 02
AUTORES: JOÃO MARTINS; VILELA V MENDES;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: International Journal of Neural Systems, VOLUME: 11, NÚMERO: 02
292
TÃTULO: Image processing in a mu c-Si : H p-i-n image transducer Full Text
AUTORES: Sousa, F; Martins, J; Fernandes, M ; Macarico, A; Schwarz, R; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 18th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (ICAMS 18) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 266
AUTORES: Sousa, F; Martins, J; Fernandes, M ; Macarico, A; Schwarz, R; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 18th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (ICAMS 18) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 266
293
TÃTULO: VIS/NIR detector based on mu c-Si : H p-i-n structures Full Text
AUTORES: Fernandes, M ; Fantoni, A ; Martins, J; Macarico, A; Schwarz, R ; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Symposium P: Optical Characterization of Semiconductor Layers and Surfaces at the 1999 E-MRS Spring Conference in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 364, NÚMERO: 1-2
AUTORES: Fernandes, M ; Fantoni, A ; Martins, J; Macarico, A; Schwarz, R ; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Symposium P: Optical Characterization of Semiconductor Layers and Surfaces at the 1999 E-MRS Spring Conference in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 364, NÚMERO: 1-2
294
TÃTULO: A mu c-Si : H p-i-n imager for 2-D pattern recognition
AUTORES: Martins, J; Fernandes, M ; Sousa, F; Louro, P ; Macarico, A; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Symposium on Flat-Panel Displays and Sensors-Principles, Materials and Processes held at the 1999 MRS Spring Meeting in FLAT-PANEL DISPLAYS AND SENSORS: PRINCIPLES, MATERIALS AND PROCESSES, VOLUME: 558
AUTORES: Martins, J; Fernandes, M ; Sousa, F; Louro, P ; Macarico, A; Vieira, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Symposium on Flat-Panel Displays and Sensors-Principles, Materials and Processes held at the 1999 MRS Spring Meeting in FLAT-PANEL DISPLAYS AND SENSORS: PRINCIPLES, MATERIALS AND PROCESSES, VOLUME: 558
INDEXADO EM: 
Scopus 
WOS
Scopus WOS295
TÃTULO: Improved resolution in a P-I-N image sensor by changing the structure of the doped layers
AUTORES: Vieira, M ; Fernandes, M ; Martins, J; Louro, P ; Macarico, A; Schwarz, R ; Schubert, M;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Amorphous and Heterogeneus Silicon Thin Films-2000 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 609
AUTORES: Vieira, M ; Fernandes, M ; Martins, J; Louro, P ; Macarico, A; Schwarz, R ; Schubert, M;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Amorphous and Heterogeneus Silicon Thin Films-2000 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 609
INDEXADO EM: Scopus
Scopus296
TÃTULO: A clonal Plasmodium falciparum population in an isolated outbreak of malaria in the Republic of Cabo Verde
AUTORES: Arez, AP ; Snounou, G; Pinto, J ; Sousa, CA ; Modiano, D; Ribeiro, H; Franco, AS; Alves, J; do Rosario, VE;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: PARASITOLOGY, VOLUME: 118, NÚMERO: 4
AUTORES: Arez, AP ; Snounou, G; Pinto, J ; Sousa, CA ; Modiano, D; Ribeiro, H; Franco, AS; Alves, J; do Rosario, VE;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: PARASITOLOGY, VOLUME: 118, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS
Scopus WOS297
TÃTULO: Harmonic distortion due to output conductance in SI cells
AUTORES: Martins, J; Dias, V;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: ELECTRONICS LETTERS, VOLUME: 33, NÚMERO: 2
AUTORES: Martins, J; Dias, V;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: ELECTRONICS LETTERS, VOLUME: 33, NÚMERO: 2
298
TÃTULO: Switched-Capacitor decimators combining low-sensitivity ladder structures with high-speed polyphase networks
AUTORES: Santos, PJ; daFranca, JE; Martins, JA;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, VOLUME: 43, NÚMERO: 1
AUTORES: Santos, PJ; daFranca, JE; Martins, JA;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, VOLUME: 43, NÚMERO: 1
