Sara Raquel da Costa Pinto
AuthID: R-000-NTF
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TÃTULO: Raman study of stress effect on Ge nanocrystals embedded in Al2O3 Full Text
AUTORES: Pinto, SRC; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Kashtiban, RJ; Bangert, U; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 518, NÚMERO: 19
AUTORES: Pinto, SRC; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Kashtiban, RJ; Bangert, U; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 518, NÚMERO: 19
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TÃTULO: Ge nanocrystals in alumina matrix: a structural study Full Text
AUTORES: Kashtiban, RJ; Pinto, SRC; Bangert, U; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Gomes, MJM ; Harvey, AJ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials in 16TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS, VOLUME: 209
AUTORES: Kashtiban, RJ; Pinto, SRC; Bangert, U; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Gomes, MJM ; Harvey, AJ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials in 16TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS, VOLUME: 209
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TÃTULO: Size and spatial homogeneity of SiGe quantum dots in amorphous silica matrix Full Text
AUTORES: Maja Buljan; Sara R C Pinto; Reza J Kashtiban; Anabela G Rolo ; Adil Chahboun ; Ursel Bangert; Sergey Levichev ; Vaclav Holy; Maria J M Gomes ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 8
AUTORES: Maja Buljan; Sara R C Pinto; Reza J Kashtiban; Anabela G Rolo ; Adil Chahboun ; Ursel Bangert; Sergey Levichev ; Vaclav Holy; Maria J M Gomes ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 8
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TÃTULO: Electrical Conduction of CdSe Nanocrystals Embedded in Silicon Oxide Films
AUTORES: Levichev, S ; Mamor, M; Rolo, AG ; Pinto, SRC; Khodorov, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
AUTORES: Levichev, S ; Mamor, M; Rolo, AG ; Pinto, SRC; Khodorov, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
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TÃTULO: Estimation of Ge nanocrystals size by Raman, X-rays, and HRTEM techniques
AUTORES: Pinto, SRC; Caldelas, P; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, VOLUME: 14, NÚMERO: SUPPL. 3
AUTORES: Pinto, SRC; Caldelas, P; Rolo, AG ; Chahboun, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, VOLUME: 14, NÚMERO: SUPPL. 3
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TÃTULO: Investigation of photoelectrical properties of CdSe nanocrystals embedded in a SiO(2) matrix Full Text
AUTORES: Kafadaryan, EA; Levichev, S ; Pinto, SRC; Aghamalyan, NR; Hovsepyan, RK; Badalyan, GR; Chahboun, A ; Rolo, AG ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 23, NÚMERO: 9
AUTORES: Kafadaryan, EA; Levichev, S ; Pinto, SRC; Aghamalyan, NR; Hovsepyan, RK; Badalyan, GR; Chahboun, A ; Rolo, AG ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 23, NÚMERO: 9
