91
TÍTULO: Sputter depth profiling by secondary ion mass spectrometry coupled with sample current measurements
AUTORES: Bardi, U; Chenakin, SP; Lavacchi, A; Pagura, C; Tolstogouzov, A;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 252, NÚMERO: 20
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92
TÍTULO: XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: Effect of cooling  Full Text
AUTORES: Chenakin, SP; Vasylyev, MA; Kruse, N; Tolstogouzov, AB;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: Surface and Interface Analysis, VOLUME: 38, NÚMERO: 7
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93
TÍTULO: Surface modification of industrial alloys induced by long-term interaction with an ionic liquid
AUTORES: Bardi, U; Chenakin, SP; Caporali, S; Lavacchi, A; Perissi, I; Tolstogouzov, A;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, VOLUME: 38, NÚMERO: 12-13
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94
TÍTULO: Study of high-temperature degradation of multilayer thin-film coatings based on chromium and aluminum nitrides
AUTORES: Tolstogouzov, AB; Bardi, U; Chenakin, SP;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, VOLUME: 70, NÚMERO: 8
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TÍTULO: Corrosion behavior of metals and alloys in ionic liquid, the 1-butyl-3-methyl-imidazolium bis-(trifluoromethanesulfonyl)-imide
AUTORES: Perissi, I; Caporali, S; Bardi, U; Lavacchi, A; Tolstoguzov, A;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, VOLUME: 231
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TÍTULO: XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of cooling
AUTORES: Chenakin, SP; Vasylyev, MA; Kruse, N; Tolstogouzov, AB;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, VOLUME: 38, NÚMERO: 7
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97
TÍTULO: High-temperature oxidation of CrN/AlN multilayer coatings
AUTORES: Bardi, U; Chenakin, SP; Ghezzi, F; Giolli, C; Goruppa, A; Lavacchi, A; Miorin, E; Pagura, C; Tolstogouzov, A;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 252, NÚMERO: 5
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98
TÍTULO: Mass-resolved ion scattering spectrometry for characterization of samples with historical value
AUTORES: Daolio, S; Pagura, C; Tolstogouzov, A;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 222, NÚMERO: 1-4
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TÍTULO: MARISS study on ion yields of Ne<SUP>+</SUP> scattered from III-V compound semiconductors
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 217, NÚMERO: 2
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TÍTULO: Dependence of Ne+ scattered ion yield on incident energy for surfaces of pure gallium and indium
AUTORES: Tolstoguzov, AB; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: Izvestiya Akademii Nauk. Ser. Fizicheskaya, VOLUME: 68, NÚMERO: 3
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