T. W. Cornelius
AuthID: R-00F-P7P
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TÃTULO: In situ observation of the elastic deformation of a single epitaxial SiGe crystal by combining atomic force microscopy and micro x-ray diffraction Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS; Cornelius, TW; Scheler, T; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Dhez, O; Comin, F; Metzger, TH; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 10
AUTORES: Rodrigues, MS; Cornelius, TW; Scheler, T; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Dhez, O; Comin, F; Metzger, TH; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 10
