R. G. Palgrave
AuthID: R-00G-X1P
1
TÃTULO: Composition measurement of epitaxial ScxGa1-xN films Full Text
AUTORES: Tsui, HCL; Goff, LE; Barradas, NP; Alves, E; Pereira, S; Palgrave, RG; Davies, RJ; Beere, HE; Farrer, I; Ritchie, DA; Moram, MA;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 31, NÚMERO: 6
AUTORES: Tsui, HCL; Goff, LE; Barradas, NP; Alves, E; Pereira, S; Palgrave, RG; Davies, RJ; Beere, HE; Farrer, I; Ritchie, DA; Moram, MA;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 31, NÚMERO: 6
