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TÍTULO: Off-Axis Electron Holography of Unbiased and Reverse-Biased Focused Ion Beam Milled Si p-n Junctions
AUTORES: Alison C Twitchett; Rafal E Dunin-Borkowski; Robert J Hallifax; Ronald F Broom; Paul A Midgley;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: Microscopy and Microanalysis, VOLUME: 11, NÚMERO: 01
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