Sebastiao dos Santos Filho
AuthID: R-00J-CX7
1
TÃTULO: MOS Capacitance Measurements for PEALD TiO2 Dielectric Films Grown under Different Conditions and the Impact of Al2O3 Partial-Monolayer Insertion
AUTORES: William Chiappim; Marcos Watanabe; Vanessa Dias; Giorgio Testoni; Ricardo Rangel; Mariana Fraga; Homero Maciel; Sebastiao dos Santos Filho; Rodrigo Pessoa;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: NANOMATERIALS, VOLUME: 10, NÚMERO: 2
AUTORES: William Chiappim; Marcos Watanabe; Vanessa Dias; Giorgio Testoni; Ricardo Rangel; Mariana Fraga; Homero Maciel; Sebastiao dos Santos Filho; Rodrigo Pessoa;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: NANOMATERIALS, VOLUME: 10, NÚMERO: 2
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