R. Pechou
AuthID: R-00J-VQ0
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TÃTULO: Hot hole transport through Au/n-Si(100) studied by reverse ballistic electron emission microscopy and spectroscopy Full Text
AUTORES: Chahboun, A; Coratger, R; Pechou, R; Ajustron, F; Beauvillain, J;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Surface Science, VOLUME: 462, NÚMERO: 1
AUTORES: Chahboun, A; Coratger, R; Pechou, R; Ajustron, F; Beauvillain, J;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Surface Science, VOLUME: 462, NÚMERO: 1
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