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Study of Trap States in Zinc Oxide (Zno) Thin Films for Electronic Applications
AuthID
P-003-ZSH
6
Author(s)
Casteleiro, C
·
Gomes, HL
·
Stallinga, P
·
Bentes, L
·
Ayouchi, R
·
Schwarz, R
Tipo de Documento
Article
Year published
2008
Publicado
in
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS,
ISSN: 0022-3093
Volume: 354, Número: 19-25, Páginas: 2519-2522 (4)
Conference
22Nd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors,
Date:
AUG 19-24, 2007,
Location:
Breckenridge, CO,
Patrocinadores:
Univ Toledo, PVIC, NREL, United Solar, Forschungszentrum Julich, Hewlett Packard, OptiSolar, PARC, Sanyo, Sharp
Indexing
Wos
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.jnoncryso1.2007.10.059
Wos
: WOS:000256500400099
Source Identifiers
ISSN
: 0022-3093
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