Henrique Leonel Gomes


AuthID: R-000-5XR

Publicações Confirmadas: 86



1
TÍTULO: Sudden death of organic light-emitting diodes  Full Text
AUTORES: Paulo R F Rocha; Henrique L Gomes ; Kamal Asadi; Ilias Katsouras; Benjamin Bory; Frank Verbakel; Peter van de Weijer; Dago M de Leeuw; Stefan C J Meskers;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: ORGANIC ELECTRONICS, VOLUME: 20
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
2
TÍTULO: Lithium fluoride injection layers can form quasi-Ohmic contacts for both holes and electrons  Full Text
AUTORES: Benjamin F Bory; Paulo R F Rocha; Rene A J Janssen; Henrique L Gomes ; Dago M De Leeuw; Stefan C J Meskers;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 105, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
3
TÍTULO: Relation between the electroforming voltage in alkali halide-polymer diodes and the bandgap of the alkali halide  Full Text
AUTORES: Benjamin F Bory; Jingxin X Wang; Henrique L Gomes ; Rene A J Janssen; Dago M De Leeuw; Stefan C J Meskers;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 105, NÚMERO: 23
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
4
TÍTULO: Inkjet-printed organic electronics: Operational stability and reliability issues
AUTORES: Medeiros, MCR; Martinez Domingo, C; Ramon, E; Negrier, AT; Sowade, E; Mitra, KY; Baumann, RR; McCulloch, I; Carrabina, J; Gomes, HL ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Symposium on Organic Semiconductor Materials, Devices, and Processing 4 - 223rd Meeting of the Electrochemical Society in ECS Transactions, VOLUME: 53, NÚMERO: 26
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
5
TÍTULO: Low-frequency noise as a diagnostic tool for OLED reliability
AUTORES: Rocha, PRF; Vandamme, LKJ; Meskers, SCJ; Gomes, HL ; De Leeuw, DM; Van De Weijer, P;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 2013 22nd International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2013 in 2013 22nd International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2013
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
6
TÍTULO: Reversible post-breakdown conduction in aluminum oxide-polymer capacitors  Full Text
AUTORES: Qian Chen; Henrique L Gomes ; Paulo R F Rocha; Dago M de Leeuw; Stefan C J Meskers;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 102, NÚMERO: 15
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
7
TÍTULO: The role of internal structure in the anomalous switching dynamics of metal-oxide/polymer resistive random access memories  Full Text
AUTORES: Paulo R F Rocha; Asal Kiazadeh; Dago M De Leeuw; Stefan C J Meskers; Frank Verbakel; David M Taylor; Henrique L Gomes ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 113, NÚMERO: 13
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
8
TÍTULO: Dynamic Behavior of Resistive Random Access Memories (RRAMS) Based on Plastic Semiconductor
AUTORES: Paulo R F Rocha; Asal Kiazadeh; Qian Chen; Henrique L Gomes ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 3rd IFIP/SOCOLNET Doctoral Conference on Computing, Electrical and Industrial Systems in TECHNOLOGICAL INNOVATION FOR VALUE CREATION, VOLUME: 372
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
9
TÍTULO: Dynamics of charge carrier trapping in NO2 sensors based on ZnO field-effect transistors  Full Text
AUTORES: Anne Marije Andringa; Nynke Vlietstra; Edsger C P Smits; Mark Jan Spijkman; Henrique L Gomes ; Johan H Klootwijk; Paul W M Blom; Dago M de Leeuw;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: SENSORS AND ACTUATORS B-CHEMICAL, VOLUME: 171
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
10
TÍTULO: Electroforming Process in Metal-Oxide-Polymer Resistive Switching Memories
AUTORES: Qian Chen; Henrique L Gomes ; Asal Kiazadeh; Paulo R F Rocha; Dago M De Leeuw; Stefan C J Meskers;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 3rd IFIP/SOCOLNET Doctoral Conference on Computing, Electrical and Industrial Systems in TECHNOLOGICAL INNOVATION FOR VALUE CREATION, VOLUME: 372
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
Página 1 de 9. Total de resultados: 86.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service