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Trap States as an Explanation for the Meyer-Neldel Rule in Semiconductors
AuthID
P-000-36P
2
Author(s)
Stallinga, P
·
Gomes, HL
Tipo de Documento
Article
Year published
2005
Publicado
in
ORGANIC ELECTRONICS,
ISSN: 1566-1199
Volume: 6, Número: 3, Páginas: 137-141 (5)
Indexing
Wos
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Scopus
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1016/j.orgel.2005.03.008
SCOPUS
: 2-s2.0-20444365830
Wos
: WOS:000230436000005
Source Identifiers
ISSN
: 1566-1199
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