Eduardo Jorge da Costa Alves


AuthID: R-000-4EK

Publicações Confirmadas: 597



101
TÍTULO: Mechanisms of damage formation in Eu-implanted GaN probed by X-ray diffraction
AUTORES: Lacroix, B; Leclerc, S; Declemy, A; Lorenz, K ; Alves, E ; Ruterana, P;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: EPL, VOLUME: 96, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
102
TÍTULO: Microstructural characterization of the ODS Eurofer 97 EU-batch  Full Text
AUTORES: Mateus, R ; Carvalho, PA ; Nunes, D ; Alves, LC ; Franco, N; Correia, JB; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 26th Symposium on Fusion Technology (SOFT) in FUSION ENGINEERING AND DESIGN, VOLUME: 86, NÚMERO: 9-11
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
103
TÍTULO: Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputtering
AUTORES: Borges, J; Alves, E ; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: International Conference on Applications of Optics and Photonics in INTERNATIONAL CONFERENCE ON APPLICATIONS OF OPTICS AND PHOTONICS, VOLUME: 8001
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ResearcherID
104
TÍTULO: Optimization Of A Mass Spectrometry Process
AUTORES: Jose Lopes ; Correa Alegria, FC ; Luis Redondo ; Barradas, NP ; Alves, E ; Jorge Rocha;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 21st International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI) in APPLICATION OF ACCELERATORS IN RESEARCH AND INDUSTRY: TWENTY-FIRST INTERNATIONAL CONFERENCE, VOLUME: 1336
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ResearcherID
105
TÍTULO: Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behavior  Full Text
AUTORES: Arvinte, R; Borges, J; Sousa, RE; Munteanu, D; Barradas, NP ; Alves, E ; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 257, NÚMERO: 21
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
106
TÍTULO: Radiation damage formation and annealing in GaN and ZnO
AUTORES: Lorenz, K ; Peres, M; Franco, N; Marques, JG ; Miranda, SMC; Magalhaes, S; Monteiro, T ; Wesch, W; Alves, E ; Wendler, E;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Conference on Oxide-based Materials and Devices II in OXIDE-BASED MATERIALS AND DEVICES II, VOLUME: 7940
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ResearcherID
107
TÍTULO: Rapid thermal annealing of rare earth implanted ZnO epitaxial layers  Full Text
AUTORES: Miranda, SMC; Peres, M; Monteiro, T ; Alves, E ; Sun, HD; Geruschke, T; Vianden, R; Lorenz, K ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in OPTICAL MATERIALS, VOLUME: 33, NÚMERO: 7
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 18
NO MEU: ORCID | ResearcherID
108
TÍTULO: Resonant Raman scattering in ZnO:Mn and ZnO:Mn:Al thin films grown by RF sputtering  Full Text
AUTORES: Cerqueira, MF ; Vasilevskiy, MI ; Oliveira, F; Rolo, AG ; Viseu, T ; de Campos, JA ; Alves, E ; Correia, R;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, VOLUME: 23, NÚMERO: 33
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID
109
TÍTULO: Stopping Power Of He, C And O In InN  Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Alves, E ; Siketic, Z; Radovic, IB;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 21st International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI) in APPLICATION OF ACCELERATORS IN RESEARCH AND INDUSTRY: TWENTY-FIRST INTERNATIONAL CONFERENCE, VOLUME: 1336
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
110
TÍTULO: Structural and optical properties of Ag:TiO2 nanocomposite films prepared by magnetron sputtering
AUTORES: Adochite, RC; Torrell, M; Cunha, L ; Alves, E ; Barradas, NP ; Cavaleiro, A ; Riviere, JP; Eyidi, D; Vaz, F ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS-RAPID COMMUNICATIONS, VOLUME: 5, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
Página 11 de 60. Total de resultados: 597.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service