Eduardo Jorge da Costa Alves


AuthID: R-000-4EK

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TÍTULO: Editorial-13th ICNMTA 2012  Full Text
AUTORES: Teresa Pinheiro ; Luis C Alves; Victoria Corregidor; Eduardo Alves ; Adelaide P de Jesus; Rui C da Silva;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 306
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TÍTULO: Effects of helium and deuterium irradiation on SPS sintered W-Ta composites at different temperatures  Full Text
AUTORES: Mateus, R ; Dias, M; Lopes, J ; Rocha, J; Catarino, N; Franco, N; Livramento, V; Carvalho, PA ; Correia, JB; Hanada, K; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, VOLUME: 442, NÚMERO: 1-3
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13
TÍTULO: ELECTRICAL AND PHOTOCATALYTIC BEHAVIOUR OF TAO(X)N(Y) MAGNETRON SPUTTERED THIN SOLID FILMS
AUTORES: Daniel Cristea; Aurel Crisan; Nuno Barradas ; Eduardo Alves ; Pedro Costa; Senentxu Lanceros Mendez; Luis Cunha;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: METALURGIA INTERNATIONAL, VOLUME: 18
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TÍTULO: Enhanced red emission from praseodymium-doped GaN nanowires by defect engineering  Full Text
AUTORES: Lorenz, K; Nogales, E; Miranda, SMC; Franco, N; Mendez, B; Alves, E ; Tourbot, G; Daudin, B;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: ACTA MATERIALIA, VOLUME: 61, NÚMERO: 9
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TÍTULO: Extended-Gate ISFETs Based on Sputtered Amorphous Oxides  Full Text
AUTORES: Joana V Pinto ; Rita Branquinho ; Pedro Barquinha; Eduardo Alves ; Rodrigo Martins ; Elvira Fortunato ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF DISPLAY TECHNOLOGY, VOLUME: 9, NÚMERO: 9
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TÍTULO: Formation and delamination of beryllium carbide films  Full Text
AUTORES: Mateus, R ; Carvalho, PA ; Franco, N; Alves, LC ; Fonseca, M. ; Porosnicu, C; Lungu, CP; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, VOLUME: 442, NÚMERO: 1-3
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17
TÍTULO: Formation of oriented nickel aggregates in rutile single crystals by Ni implantation  Full Text
AUTORES: Cruz, MM ; da Silva, RC; Pinto, JV ; Borges, RP; Franco, N; Casaca, A ; Alves, E ; Godinho, M ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS, VOLUME: 340
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18
TÍTULO: Influence of composition, bonding characteristics and microstructure on the electrochemical and optical stability of AlOxNy thin films  Full Text
AUTORES: Borges, J; Fonseca, C ; Barradas, NP ; Alves, E ; Girardeau, T; Paumier, F; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: ELECTROCHIMICA ACTA, VOLUME: 106
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TÍTULO: Influence of RF-sputtering power on formation of vertically stacked Si1-xGex nanocrystals between ultra-thin amorphous Al2O3 layers: structural and photoluminescence properties
AUTORES: Vieira, EMF; Martin Sanchez, J; Roldan, MA; Varela, M; Buljan, M; Bernstorff, S; Barradas, NP ; Franco, N; Correia, MR ; Rolo, AG ; Pennycook, SJ; Molina, SI; Alves, E ; Chahboun, A ; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 46, NÚMERO: 38
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TÍTULO: Influence of stoichiometry and structure on the optical properties of AlNxOy films  Full Text
AUTORES: Borges, J; Barradas, NP ; Alves, E ; Beaufort, MF; Eyidi, D; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 46, NÚMERO: 1
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