Eduardo Jorge da Costa Alves


AuthID: R-000-4EK

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361
TÍTULO: Characterization and stability studies of titanium beryllides  Full Text
AUTORES: Alves, E ; Alves, LC ; Franco, N; da Silva, MR ; Paul, A; Hegeman, JB; Druyts, F;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 23rd Symposium on Fusion Technology (SOFT 23) in FUSION ENGINEERING AND DESIGN, VOLUME: 75-79, NÚMERO: SUPPL.
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362
TÍTULO: Characterization of silicon carbide thin films and their use in colour sensor  Full Text
AUTORES: Zhang, S; Raniero, L; Fortunato, E ; Liao, X; Hu, Z; Ferreira, I ; Aguas, H ; Ramos, AR ; Alves, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: International Conference on Physics, Chemistry and Engineering of Solar Cells in SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS, VOLUME: 87, NÚMERO: 1-4
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363
TÍTULO: Comment on "Direct evidence of nanocluster-induced luminescence in InGaN epifilms" [Appl. Phys. Lett. 86, 021911 (2005)]  Full Text
AUTORES: Pereira, S; Correia, MR ; Alves, E ; O'Donnell, KP; Chang, HJ; Chen, CH; Chen, YF; Lin, TY; Chen, LC; Chen, KH; Lan, ZH;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 87, NÚMERO: 13
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 2
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364
TÍTULO: Compositional and structural characterisation of GaSb and GaInSb  Full Text
AUTORES: Corregidor, V ; Alves, E ; Alves, LC ; Barradas, NP ; Duffar, T; Franco, N; Marques, C; Mitric, A;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 8th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 240, NÚMERO: 1-2
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365
TÍTULO: Damage formation and annealing at low temperatures in ion implanted ZnO  Full Text
AUTORES: Lorenz, K ; Alves, E ; Wendler, E; Bilani, O; Wesch, W; Hayes, M;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 87, NÚMERO: 19
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366
TÍTULO: Detection angle resolved PIXE and the equivalent depth concept for thin film characterization  Full Text
AUTORES: Miguel A. Reis ; Chaves, PC ; Corregidor, V ; Barradas, NP ; Alves, E ; Dimroth, F; Bett, AW;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 10th PIXE Conference in X-RAY SPECTROMETRY, VOLUME: 34, NÚMERO: 4
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367
TÍTULO: Direct evidence for As as a Zn-site impurity in ZnO
AUTORES: Wahl, U ; Rita, E; Correia, JG ; Marques, AC ; Alves, E ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: PHYSICAL REVIEW LETTERS, VOLUME: 95, NÚMERO: 21
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368
TÍTULO: High resolution backscattering studies of nanostructured magnetic and semiconducting materials  Full Text
AUTORES: Fonseca, A; Franco, N; Alves, E ; Barradas, NP ; Leitao, JP ; Sobolev, NA; Banhart, DF; Presting, H; Ulyanov, VV; Nikiforov, AI;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 18th International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 241, NÚMERO: 1-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 13
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369
TÍTULO: Influence of nitrogen content on the structural, mechanical and electrical properties of TiN thin films  Full Text
AUTORES: Vaz, F ; Ferreira, J; Ribeiro, E; Rebouta, L ; Lanceros Mendez, S ; Mendes, JA ; Alves, E ; Goudeau, P; Riviere, JP; Ribeiro, F; Moutinho, I; Pischow, K; de Rijk, J;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 191, NÚMERO: 2-3
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370
TÍTULO: Ion beam analysis of GaInAsSb films grown by MOVPE on GaSb  Full Text
AUTORES: Corregidor, V ; Barradas, NP ; Alves, E ; Franco, N; Alves, LC ; Chaves, PC ; Miguel A. Reis ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 18th International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 241, NÚMERO: 1-4
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