Elvira Maria Correia Fortunato


AuthID: R-000-4M5

Publicações Confirmadas: 508



451
TÍTULO: High sensitivity photochemical sensors based on amorphous silicon
AUTORES: Fortunato, E ; Malik, A; Seco, A; Macarico, A; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Amorphous and Microcrystalline Silicon Technology in AMORPHOUS AND MICROCRYSTALLINE SILICON TECHNOLOGY - 1997, VOLUME: 467
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
452
TÍTULO: Highly conductive and highly transparent n-type microcrystalline silicon thin films  Full Text
AUTORES: Martins, R ; Macarico, A; Ferreira, I ; Nunes, R; Bicho, A; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 303, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
453
TÍTULO: Improved a-Si:H TFT performance using a-SiXN1-X/a-SiXC1-X stack dielectrics
AUTORES: Lavareda, G; Fortunato, E ; Carvalho, CN; Martins, R;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Flat Panel Display Materials II, at the 1996 MRS Spring Meeting in FLAT PANEL DISPLAY MATERIALS II, VOLUME: 424
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ResearcherID
454
TÍTULO: Role of the deposition parameters in the uniformity of films produced by the plasma-enhanced chemical vapour deposition technique
AUTORES: Martins, R ; Macarico, A; Ferreira, I ; Fidalgo, J; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES, VOLUME: 76, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
455
TÍTULO: Role of the gas flow parameters on the uniformity of films produced by PECVD technique
AUTORES: Martins, R ; Macarico, A; Ferreira, I ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Amorphous and Microcrystalline Silicon Technology in AMORPHOUS AND MICROCRYSTALLINE SILICON TECHNOLOGY - 1997, VOLUME: 467
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
456
TÍTULO: Spray-deposited metal oxide films with various properties for micro- and optoelectronic applications: Growth and characterization
AUTORES: Malik, A; Seco, A; Nunes, R; Vieira, M ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Flat Panel Display Materials and Large-Area Processes, at the 1997 MRS Spring Meeting in FLAT PANEL DISPLAY MATERIALS III, VOLUME: 471
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 10
NO MEU: ORCID
457
TÍTULO: Structure, composition and electro-optical properties of n-type amorphous and microcrystalline silicon thin films
AUTORES: Martins, R ; Macarico, A; Vieira, M ; Ferreira, I ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES, VOLUME: 76, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
458
TÍTULO: A linear array thin film position sensitive detector for 3D measurements  Full Text
AUTORES: Fortunato, E ; Soares, F; Lavareda, G ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 16th International Conference on Amorphous Semiconductors - Science and Technology (ICAS 16) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 198, NÚMERO: PART 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | ResearcherID
459
TÍTULO: Correlation between electrical-optical and structural properties of microcrystalline silicon N type films
AUTORES: Martins, R ; Macarico, A; Ferreira, I ; Nunes, R; Bicho, A; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 14th Symposium on Amorphous Silicon Technology, at the 1996 MRS Spring Meeting in AMORPHOUS SILICON TECHNOLOGY - 1996, VOLUME: 420
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID
460
TÍTULO: Examination of 1-D position sensitive detector performance through analysis of front contact heterojunction
AUTORES: Topic, M; Smole, F; Furlan, J; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Proceedings of the 1996 MRS Spring Symposium in AMORPHOUS SILICON TECHNOLOGY - 1996, VOLUME: 420
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
Página 46 de 51. Total de resultados: 508.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service