Fernando Manuel Duarte Gonçalves


AuthID: R-000-51G

Publicações Confirmadas: 34



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TÍTULO: IC defects-based testability analysis
AUTORES: Sousa, JJT; Goncalves, FM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Proceedings of the International Test Conference 1991 in Digest of Papers - International Test Conference
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
32
TÍTULO: Layout-level techniques for testability improvement of MOS physical designs
AUTORES: Santos, MB ; Goncalves, FM ; Sousa, JJT; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: Proceedings of the 6th Mediterranean Electrotechnical Conference - Melecon '91 in 6th Mediterranean Electrotechnical Conference
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
33
TÍTULO: A methodology for testability enhancement at layout level
AUTORES: Teixeira, JP ; Teixeira, IC ; Almeida, CFB; Goncalves, FM ; Goncalves, J;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: Journal of Electronic Testing, VOLUME: 1, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
34
TÍTULO: PHYSICAL DESIGN OF TESTABLE CMOS DIGITAL INTEGRATED-CIRCUITS
AUTORES: DESOUSA, JJHT; GONCALVES, FM ; TEIXEIRA, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: European Solid-State Circuits Conference 1990 - ESSCIRC '90 in IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, VOLUME: 26, NÚMERO: 7
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
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