Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
João Paulo Cacho Teixeira
AuthID:
R-000-7A4
Publicações
Confirmadas
Para Validar
Document Source:
All
Document Type:
Todos os Tipos de Documentos
Proceedings Paper (64)
Article (40)
Editorial Material (2)
Review (2)
Article in Press (2)
Year Start - End:
1987
1988
1989
1990
1991
1992
1993
1994
1995
1996
1997
1998
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
2007
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2017
2018
2019
2020
2021
2022
2023
2024
-
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
1995
1994
1993
1992
1991
1990
1989
1988
1987
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 110
1
TÃTULO:
Control and data acquisition ATCA/AXIe board designed for high system availability and reliability of nuclear fusion experiments
Full Text
AUTORES:
Batista, AJN
; Leong, C;
Bexiga, V
;
Rodrigues, AP
;
Combo, A
;
Carvalho, BB
; Carvalho, PF;
Fortunato, J
;
Santos, B
;
Carvalho, P
;
Correia, M
;
Teixeira, JP
;
Teixeira, IC
;
Sousa, J
;
Goncalves, B
;
Varandas, CAF
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
27th Symposium on Fusion Technology (SOFT)
in
FUSION ENGINEERING AND DESIGN,
VOLUME:
88,
NÚMERO:
6-8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
2
TÃTULO:
Design and Validation of Configurable Online Aging Sensors in Nanometer-Scale FPGAs
AUTORES:
Maria D Valdes Pena;
Judit F Fernandez Freijedo
; Maria J M Moure Rodriguez; Juan J Rodriguez Andina;
Jorge Semião
;
Isabel Maria C Cacho Teixeira
;
Joao Paulo C Cacho Teixeira
;
Fabian Vargas
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY,
VOLUME:
12,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
3
TÃTULO:
Process Variations-Aware Statistical Analysis Framework for Aging Sensors Insertion
Full Text
AUTORES:
Vazquez, JC; Champac, V;
Jorge Semião
;
Teixeira, IC
;
Santos, MB
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,
VOLUME:
29,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
4
TÃTULO:
Aging-Aware Power or Frequency Tuning With Predictive Fault Detection
Full Text
AUTORES:
Jackson Pachito
;
Celestino V Martins
; Bruno Jacinto;
Isabel C Teixeira
;
Joao Paulo Teixeira
;
Jorge Semião
; Julio C Vazquez; Victor Champac;
Marcelino B Santos
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS,
VOLUME:
29,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
5
TÃTULO:
ATCA/AXIe compatible board for fast control and data acquisition in nuclear fusion experiments
Full Text
AUTORES:
Batista, AJN
; Leong, C;
Bexiga, V
;
Rodrigues, AP
;
Combo, A
;
Carvalho, BB
;
Fortunato, J
;
Correia, M
;
Teixeira, JP
;
Teixeira, IC
;
Sousa, J
;
Goncalves, B
;
Varandas, CAF
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
8th IAEA Technical Meeting on Control, Data Acquisition, and Remote Participation for Fusion Research
in
FUSION ENGINEERING AND DESIGN,
VOLUME:
87,
NÚMERO:
12
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
6
TÃTULO:
Implementation of an ATCA/AXIe Board for Fast Control and Data Acquisition Systems of Nuclear Fusion Devices
AUTORES:
Antonio J N Batista
;
Carlos Leong
;
Vasco Bexiga
;
Antonio P Rodrigues
;
Alvaro Combo
;
Bernardo B Carvalho
; Paulo F Carvalho;
Joao Fortunato
;
Bruno Santos
;
Pedro Carvalho
;
Miguel Correia
;
Joao P Teixeira
;
Isabel C Teixeira
;
Jorge Sousa
;
Bruno Goncalves
;
Carlos A F Varandas
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
18th IEEE-NPSS Real Time Conference (RT)
in
2012 18TH IEEE-NPSS REAL TIME CONFERENCE (RT)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
7
TÃTULO:
ITER prototype fast plant system controller based on ATCA platform
AUTORES:
Goncalves, B
;
Sousa, J
;
Carvalho, BB
;
Batista, A
;
Neto, A
;
Santos, B
;
Duarte, A
; Valcarcel, D; Alves, D;
Correia, M
;
Rodrigues, AP
; Carvalho, PF;
Fortunato, J
;
Carvalho, PJ
; Ruiz, M; Vega, J; Castro, R; Lopez, JM; Utzel, N; Makijarvi, P;
Leong, C;
Bexiga, V
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
Barbalace, A;
Lousa, P;
Godinho, J;
Mota, P;
...Mais
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
2011 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2011
in
IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record
INDEXADO EM:
Scopus
8
TÃTULO:
Modeling the Effect of Process, Power-Supply Voltage and Temperature Variations on the Timing Response of Nanometer Digital Circuits
Full Text
AUTORES:
Judit F Freijedo
;
Jorge Semião
; Juan J Rodriguez Andina;
Fabian Vargas
;
Isabel C Teixeira
;
Paulo Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,
VOLUME:
28,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
9
TÃTULO:
The Influence of Clock-Gating On NBTI-Induced Delay Degradation
AUTORES:
Pachito, J; Martins, CV;
Jorge Semião
;
Santos, M
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS)
in
2012 IEEE 18TH INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM (IOLTS)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
10
TÃTULO:
Adaptive Error-Prediction Flip-flop for Performance Failure Prediction with Aging Sensors
AUTORES:
Martins, CV;
Jorge Semião
; Vazquez, JC;
Champac, V
;
Santos, M
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV)
in
2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
Adicionar à lista
Marked
Marcar Todas
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
CSV
PDF
Export Preview
Print
×
Publication Print Settings
HTML
PDF
Print Preview
Página 1 de 11. Total de resultados: 110.
<<
<
1
2
3
4
5
6
7
8
9
>
>>
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service