1
TÍTULO: Control and data acquisition ATCA/AXIe board designed for high system availability and reliability of nuclear fusion experiments  Full Text
AUTORES: Batista, AJN ; Leong, C; Bexiga, V; Rodrigues, AP ; Combo, A; Carvalho, BB ; Carvalho, PF; Fortunato, J; Santos, B; Carvalho, P; Correia, M; Teixeira, JP ; Teixeira, IC ; Sousa, J ; Goncalves, B ; Varandas, CAF ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 27th Symposium on Fusion Technology (SOFT) in FUSION ENGINEERING AND DESIGN, VOLUME: 88, NÚMERO: 6-8
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2
TÍTULO: Design and Validation of Configurable Online Aging Sensors in Nanometer-Scale FPGAs
AUTORES: Maria D Valdes Pena; Judit F Fernandez Freijedo; Maria J M Moure Rodriguez; Juan J Rodriguez Andina; Jorge Semião ; Isabel Maria C Cacho Teixeira ; Joao Paulo C Cacho Teixeira ; Fabian Vargas;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 12, NÚMERO: 4
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3
TÍTULO: Process Variations-Aware Statistical Analysis Framework for Aging Sensors Insertion  Full Text
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 29, NÚMERO: 3
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4
TÍTULO: Aging-Aware Power or Frequency Tuning With Predictive Fault Detection  Full Text
AUTORES: Jackson Pachito; Celestino V Martins; Bruno Jacinto; Isabel C Teixeira ; Joao Paulo Teixeira ; Jorge Semião ; Julio C Vazquez; Victor Champac; Marcelino B Santos ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS, VOLUME: 29, NÚMERO: 5
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5
TÍTULO: ATCA/AXIe compatible board for fast control and data acquisition in nuclear fusion experiments  Full Text
AUTORES: Batista, AJN ; Leong, C; Bexiga, V; Rodrigues, AP ; Combo, A; Carvalho, BB ; Fortunato, J; Correia, M; Teixeira, JP ; Teixeira, IC ; Sousa, J ; Goncalves, B ; Varandas, CAF ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 8th IAEA Technical Meeting on Control, Data Acquisition, and Remote Participation for Fusion Research in FUSION ENGINEERING AND DESIGN, VOLUME: 87, NÚMERO: 12
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7
TÍTULO: ITER prototype fast plant system controller based on ATCA platform
AUTORES: Goncalves, B ; Sousa, J ; Carvalho, BB ; Batista, A ; Neto, A; Santos, B; Duarte, A; Valcarcel, D; Alves, D; Correia, M; Rodrigues, AP ; Carvalho, PF; Fortunato, J; Carvalho, PJ; Ruiz, M; Vega, J; Castro, R; Lopez, JM; Utzel, N; Makijarvi, P; Leong, C; Bexiga, V; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ; Barbalace, A; Lousa, P; Godinho, J; Mota, P; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2011 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2011 in IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record
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8
TÍTULO: Modeling the Effect of Process, Power-Supply Voltage and Temperature Variations on the Timing Response of Nanometer Digital Circuits  Full Text
AUTORES: Judit F Freijedo; Jorge Semião ; Juan J Rodriguez Andina; Fabian Vargas; Isabel C Teixeira ; Paulo Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 28, NÚMERO: 4
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9
TÍTULO: The Influence of Clock-Gating On NBTI-Induced Delay Degradation
AUTORES: Pachito, J; Martins, CV; Jorge Semião ; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) in 2012 IEEE 18TH INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM (IOLTS)
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10
TÍTULO: Adaptive Error-Prediction Flip-flop for Performance Failure Prediction with Aging Sensors
AUTORES: Martins, CV; Jorge Semião ; Vazquez, JC; Champac, V; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV) in 2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
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