Francisco Andre Correa Alegria


AuthID: R-000-59K

Publicações Confirmadas: 71



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TÍTULO: Proposal for high accuracy linearity test of triangular waveform generators
AUTORES: Correa Alegria, F ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: IEEE AFRICON 2007 in IEEE AFRICON Conference
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42
TÍTULO: Standard histogram test precision of ADC gain and offset error estimation
AUTORES: Francisco Correa Alegria ; Antonio Cruz Serra ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 56, NÚMERO: 5
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NO MEU: ORCID
43
TÍTULO: Time base error characterization of a data recorder aimed for marine seismology  Full Text
AUTORES: Panahi, SS; Alegria, FC ; Manuel, A; Serral, AC;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 24th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2007 IEEE INSTRUMENTATION & MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1-5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 5
NO MEU: ORCID
44
TÍTULO: ADC transfer curve types - A review  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 28, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
45
TÍTULO: Fast ADC testing by repetitive histogram analysis  Full Text
AUTORES: Serra, AC ; Alegria, F ; Michaeli, L; Michalko, P; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IMTC'06 - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
46
TÍTULO: Fast ADC testing by repetitive histogram analysis  Full Text
AUTORES: Serra, AC ; Alegria, F ; Michaeli, L; Michalko, P; Saliga, J;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
INDEXADO EM: WOS CrossRef
47
TÍTULO: The histogram test of ADCs is unbiased by phase noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IMTC'06 - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
48
TÍTULO: The histogram test of ADCs is unbiased by phase noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
INDEXADO EM: WOS CrossRef
49
TÍTULO: Uncertainty of the estimates of sine wave fitting of digital data in the presence of additive noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in 2006 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS, VOLS 1-5
INDEXADO EM: WOS CrossRef
50
TÍTULO: Uncertainty of the estimates of sine wave fitting of digital data in the presence of additive noise  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IMTC'06 - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
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