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João Paulo de Castro Canas Ferreira
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R-000-7A5
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Proceedings Paper (58)
Article (28)
Book Chapter (7)
Editorial Material (3)
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1996
1995
1994
1993
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Ano Asc
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IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 96
91
TÃTULO:
AN IC ARCHITECTURE FOR BOARD-LEVEL MIXED-SIGNAL TEST SUPPORT
AUTORES:
FERREIRA, JC
; LEAO, AC;
DASILVA, JM
;
MATOS, JS
;
PUBLICAÇÃO:
1994
,
FONTE:
7th Mediterranean Electrotechnical Conference (MeleCON 94)
in
7TH MEDITERRANEAN ELECTROTECHNICAL CONFERENCE, VOLS 1-3,
VOLUME:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
92
TÃTULO:
Approach to testability improvement of mixed-signal boards
AUTORES:
Matos Jose, S;
Ferreira Joao, C
; Leao Ana, C;
Silva Jose, M
;
PUBLICAÇÃO:
1994
,
FONTE:
Proceedings of the 1994 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Part 3 (of 6)
in
Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems,
VOLUME:
6
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
93
TÃTULO:
Architecture of test support ICs for mixed-signal testing
AUTORES:
Matos Jose, S;
Ferreira Joao, C
; Leao Ana, C;
Silva Jose, M
;
PUBLICAÇÃO:
1994
,
FONTE:
Proceedings of the 12th IEEE VLSI Test Symposium
in
Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
94
TÃTULO:
Architecture of test support ICs for mixed-signal testing
AUTORES:
José Silva Matos
;
João Canas Ferreira
; Ana C Leão; Machado M Silva;
PUBLICAÇÃO:
1994
,
FONTE:
12th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'94), April 25-28, 1994, Cherry Hill, New Jersey, USA
INDEXADO EM:
DBLP
NO MEU:
ORCID
|
DBLP
95
TÃTULO:
Control and Observation of Analog Nodes in Mixed-Signal Boards
AUTORES:
José Silva Matos
; Ana C Leão;
João Canas Ferreira
;
PUBLICAÇÃO:
1993
,
FONTE:
Proceedings IEEE International Test Conference 1993, Designing, Testing, and Diagnostics - Join Them, Baltimore, Maryland, USA, October 17-21, 1993
INDEXADO EM:
DBLP
NO MEU:
ORCID
|
DBLP
96
TÃTULO:
CONTROL AND OBSERVATION OF ANALOG NODES IN MIXED-SIGNAL BOARDS
AUTORES:
MATOS, JS
; LEAO, AC;
FERREIRA, JC
;
PUBLICAÇÃO:
1993
,
FONTE:
International Test Conference 1993: Designing, Testing, and Diagnostics - Join Them
in
INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1993 PROCEEDINGS: DESIGNING, TESTING, AND DIAGNOSTICS - JOIN THEM
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
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