José Alberto Peixoto Machado da Silva


AuthID: R-000-7Z3

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81
TÍTULO: Using IEEE P1149.4
AUTORES: J.S Matos; Machado da Silva, J ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 1998 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. Surfing the Waves of Science and Technology (Cat. No.98EX196)
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
82
TÍTULO: Implementation and evaluation of mixed current / voltage testing using the IEEE P1149.4 infrastructure
AUTORES: Da Silva, JM ; Alves, JC ; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: IEE Colloquium (Digest), NÚMERO: 361
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
83
TÍTULO: Implementation of mixed current/voltage testing using the IEEE P1149.4 infrastructure  Full Text
AUTORES: da Silva, JM ; Leao, AC; Alves, JC ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: International Test Conference 1997 (ITC) in ITC - INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1997, PROCEEDINGS: INTEGRATING MILITARY AND COMMERCIAL COMMUNICATIONS FOR THE NEXT CENTURY
INDEXADO EM: Scopus WOS DBLP
84
TÍTULO: Using power supply current monitoring and P1149.4 for parametric testing of passive components
AUTORES: Machado da Silva, J ; Silva Matos, J ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Proceedings of 1997 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Circuits and Systems in the Information Age ISCAS '97
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
85
TÍTULO: Using power supply current monitoring and P1149.4 for parametric testing of passive components
AUTORES: daSilva, JM ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1997 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 97) - Circuits and Systems in the Information Age in ISCAS '97 - PROCEEDINGS OF 1997 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, VOLS I - IV: CIRCUITS AND SYSTEMS IN THE INFORMATION AGE, VOLUME: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
86
TÍTULO: Evaluation of i(DD)/V-OUT cross-correlation for mixed current/voltage testing of analogue and mixed-signal circuits  Full Text
AUTORES: daSilva, JM ; Matos, JS;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: European Design and Test Conference in EUROPEAN DESIGN & TEST CONFERENCE 1996 - ED&TC 96, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
87
TÍTULO: Evaluation of iDD/vOUT Cross-Correlation for Mixed Current/Voltage Testing of Analogue and Mixed-Signal Circuits
AUTORES: José Machado da Silva ; José Silva Matos ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1996 European Conference on Design and Test, EDTC 1996 in 1996 European Design and Test Conference, ED&TC 1996, Paris, France, March 11-14, 1996
INDEXADO EM: Scopus DBLP CrossRef: 1
NO MEU: DBLP
88
TÍTULO: Mixed current/voltage observation towards effective testing of analog and mixed-signal circuits
AUTORES: José Machado da Silva ; José Silva Matos; Ian M Bell; Gaynor E Taylor;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: J. Electron. Test., VOLUME: 9, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: DBLP
NO MEU: DBLP
89
TÍTULO: Mixed current/voltage observation towards effective testing of analog and mixed-signal circuits
AUTORES: DaSilva, JM ; Matos, JS ; Bell, IM; Taylor, GE;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, VOLUME: 9, NÚMERO: 1-2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID
90
TÍTULO: Supply current test of analogue and mixed signal circuits
AUTORES: Bell, IM; Spinks, SJ; daSilva, JM ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: IEE PROCEEDINGS-CIRCUITS DEVICES AND SYSTEMS, VOLUME: 143, NÚMERO: 6
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 21
NO MEU: ORCID
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