31
TÍTULO: Paintings on copper by the Flemish artist Frans Francken II: PIXE characterization by external microbeam  Full Text
AUTORES: Corregidor, V; Oliveira, AR; Rodrigues, PA; Alves, LC;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: 14th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA) / Workshop on Proton Beam Writing in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 348
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 6
32
TÍTULO: Microbiological and compositional features of green stains in the glaze of the Portuguese “Great View of Lisbon” tile panel  Full Text
AUTORES: Cabo Verde, S; Silva, T; Corregidor, V; Esteves, L; Dias, MI; Souza Egipsy, V; Ascaso, C; Wierzchos, J; Santos, L; Prudencio, MI;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Journal of Materials Science, VOLUME: 50, NÚMERO: 20
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID
33
TÍTULO: Self-consistent depth profiling and imaging of GaN-based transistors using ion microbeams  Full Text
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Corregidor, V; Vázquez, L; L.C Alves;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 348
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
34
TÍTULO: Microscopy techniques for dye distribution in DSCs nanocrystalline TiO2 films
AUTORES: Barreiros, MA; Sequeira, S; Alves, LC; Corregidor, V; Guimarães, F; Mascarenhas, J; Brites, MJ;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Microscopy and Microanalysis - Microsc Microanal, VOLUME: 21, NÚMERO: S6
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
35
TÍTULO: Gold layers characterization by Ion Beam Analytical Techniques: from Semiconductors to cultural heritage artefacts
AUTORES: Corregidor, V; L.C Alves;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Microscopy and Microanalysis - Microsc Microanal, VOLUME: 21, NÚMERO: S6
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
36
TÍTULO: Microprobe study of Portuguese ancient silver coins of uncertain provenance
AUTORES: Cruz, J ; Corregidor, V; L.C Alves;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Microscopy and Microanalysis - Microsc Microanal, VOLUME: 21, NÚMERO: S6
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
37
TÍTULO: Compositional characterization of iron gall inks in manuscripts
AUTORES: Viegas, R; Franco, N; L.C Alves; Peña, MT; Alves, E; Corregidor, V;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Microscopy and Microanalysis - Microsc Microanal, VOLUME: 21, NÚMERO: S6
INDEXADO EM: CrossRef
NO MEU: ORCID
38
TÍTULO: Paintings on copper by the Flemish artist Frans Francken II: PIXE characterization by external microbeam
AUTORES: Corregidor, V; Oliveira, AR; Rodrigues, PA; Alves, LC;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 348
INDEXADO EM: Scopus
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39
TÍTULO: Self-consistent depth profiling and imaging of GaN-based transistors using ion microbeams
AUTORES: Redondo Cubero, A; Corregidor, V; Vázquez, L; Alves, LC;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 348
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
40
TÍTULO: Influence of lateral and in- depth metal segregation on the patterning of ohmic contacts for GaN-based devices  Full Text
AUTORES: Redondo Cubero, A; Vazquez, L; Alves, LC; Corregidor, V; Romero, MF; Pantellini, A; Lanzieri, C; Munoz, E;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 47, NÚMERO: 18
INDEXADO EM: Scopus WOS
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