Andrés Redondo Cubero
AuthID: R-000-Z0D
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TÃTULO: Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction Full Text
AUTORES: Daniel Carvalho; Knut Mueller Caspary; Marco Schowalter; Tim Grieb; Thorsten Mehrtens; Andreas Rosenauer; Teresa Ben; Rafael Garcia; Andres Redondo Cubero; Katharina Lorenz; Bruno Daudin; Francisco M Morales;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 6
AUTORES: Daniel Carvalho; Knut Mueller Caspary; Marco Schowalter; Tim Grieb; Thorsten Mehrtens; Andreas Rosenauer; Teresa Ben; Rafael Garcia; Andres Redondo Cubero; Katharina Lorenz; Bruno Daudin; Francisco M Morales;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 6
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TÃTULO: Quantum Well Intermixing and Radiation Effects in InGaN/GaN Multi Quantum Wells
AUTORES: Lorenz, K; Redondo Cubero, A; Lourenco, MB; Sequeira, MC; Peres, M; Freitas, A; Alves, LC; Alves, E; Leitao, MP; Rodrigues, J; Ben Sedrine, N; Correia, MR; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Conference on Gallium Nitride Materials and Devices XI in GALLIUM NITRIDE MATERIALS AND DEVICES XI, VOLUME: 9748
AUTORES: Lorenz, K; Redondo Cubero, A; Lourenco, MB; Sequeira, MC; Peres, M; Freitas, A; Alves, LC; Alves, E; Leitao, MP; Rodrigues, J; Ben Sedrine, N; Correia, MR; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Conference on Gallium Nitride Materials and Devices XI in GALLIUM NITRIDE MATERIALS AND DEVICES XI, VOLUME: 9748
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TÃTULO: Self-organised silicide nanodot patterning by medium-energy ion beam sputtering of Si (100): local correlation between the morphology and metal content
AUTORES: Redondo Cubero, A; Galiana, B; Lorenz, K; Palomares, FJ; Bahena, D; Ballesteros, C; Hernandez Calderon, I; Vazquez, L;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 27, NÚMERO: 44
AUTORES: Redondo Cubero, A; Galiana, B; Lorenz, K; Palomares, FJ; Bahena, D; Ballesteros, C; Hernandez Calderon, I; Vazquez, L;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 27, NÚMERO: 44
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TÃTULO: Ion-beam induced effects in multi-layered semiconductor systems
AUTORES: Wendler, E; Sobolev, NA; Redondo Cubero, A; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS, VOLUME: 253, NÚMERO: 11
AUTORES: Wendler, E; Sobolev, NA; Redondo Cubero, A; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS, VOLUME: 253, NÚMERO: 11
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TÃTULO: Analysis of Zinc Nitride Resistive Indicators under Different Relative Humidity Conditions
AUTORES: Gómez Castaño, M; Redondo Cubero, A; Vázquez, L; Pau, JL;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, VOLUME: 8, NÚMERO: 42
AUTORES: Gómez Castaño, M; Redondo Cubero, A; Vázquez, L; Pau, JL;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, VOLUME: 8, NÚMERO: 42
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TÃTULO: Bonding structure and morphology of chromium oxide films grown by pulsed-DC reactive magnetron sputter deposition
AUTORES: Gago, R; Vinnichenko, M; Hübner, R; Redondo Cubero, A;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, VOLUME: 672
AUTORES: Gago, R; Vinnichenko, M; Hübner, R; Redondo Cubero, A;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, VOLUME: 672
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TÃTULO: Analysis of Zinc Nitride Resistive Indicators under Different Relative Humidity Conditions
AUTORES: Gómez-Castaño, M; Redondo-Cubero, A; Vázquez, L; Pau, JL;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: ACS Applied Materials & Interfaces, VOLUME: 8, NÚMERO: 42
AUTORES: Gómez-Castaño, M; Redondo-Cubero, A; Vázquez, L; Pau, JL;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: ACS Applied Materials & Interfaces, VOLUME: 8, NÚMERO: 42
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TÃTULO: Ion damage overrides structural disorder in silicon surface nanopatterning by low-energy ion beam sputtering
AUTORES: Moreno Barrado, A; Gago, R; Redondo Cubero, A; Vazquez, L; Munoz Garcia, J; Cuerno, R; Lorenz, K; Castro, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: EPL, VOLUME: 109, NÚMERO: 4
AUTORES: Moreno Barrado, A; Gago, R; Redondo Cubero, A; Vazquez, L; Munoz Garcia, J; Cuerno, R; Lorenz, K; Castro, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: EPL, VOLUME: 109, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Luminescence studies on green emitting InGaN/GaN MQWs implanted with nitrogen Full Text
AUTORES: Marco A Sousa; Teresa C Esteves; Nabiha Ben Sedrine; Joana Rodrigues; Marcio B Lourenco; Andres Redondo Cubero; Eduardo Alves; Kevin P O'Donnell; Michal Bockowski; Christian Wetzel; Maria R Correia; Katharina Lorenz; Teresa Monteiro;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 5
AUTORES: Marco A Sousa; Teresa C Esteves; Nabiha Ben Sedrine; Joana Rodrigues; Marcio B Lourenco; Andres Redondo Cubero; Eduardo Alves; Kevin P O'Donnell; Michal Bockowski; Christian Wetzel; Maria R Correia; Katharina Lorenz; Teresa Monteiro;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 5
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TÃTULO: Self-consistent depth profiling and imaging of GaN-based transistors using ion microbeams Full Text
AUTORES: Redondo Cubero, A; Corregidor, V; Vazquez, L; Alves, LC;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: 14th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA) / Workshop on Proton Beam Writing in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 348
AUTORES: Redondo Cubero, A; Corregidor, V; Vazquez, L; Alves, LC;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: 14th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA) / Workshop on Proton Beam Writing in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 348
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