71
TÍTULO: Nonuniversality due to inhomogeneous stress in semiconductor surface nanopatterning by low-energy ion-beam irradiation
AUTORES: Moreno-Barrado A.; Castro M.; Gago R.; Vázquez L.; Muñoz-García J.; Redondo-Cubero A.; Galiana B.; Ballesteros C.; Cuerno R.;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics, VOLUME: 91, NÚMERO: 15
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72
TÍTULO: Influence of lateral and in- depth metal segregation on the patterning of ohmic contacts for GaN-based devices  Full Text
AUTORES: Redondo Cubero, A; Vazquez, L; Alves, LC; Corregidor, V; Romero, MF; Pantellini, A; Lanzieri, C; Munoz, E;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 47, NÚMERO: 18
INDEXADO EM: Scopus WOS
73
TÍTULO: Comparative analysis of anodized, implanted and sputtered tantalum oxide targets for the study of O-16+O-16 fusion reaction  Full Text
AUTORES: Silva, H; Cruz, J ; Redondo Cubero, A; Santos, C; Fonseca, M. ; Luis, H; Jesus, AP ;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 331
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 2
74
TÍTULO: Ion beam analysis: New trends and challenges  Full Text
AUTORES: Alessandro Zucchiatti; Andres Redondo Cubero;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 331
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
75
TÍTULO: Influence of metal co-deposition on silicon nanodot patterning dynamics during ion-beam sputtering
AUTORES: Gago, R; Redondo Cubero, A; Palomares, FJ; Vazquez, L;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 25, NÚMERO: 41
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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76
TÍTULO: Self-organized nanopattrening of silicon surfaces by ion beam sputtering  Full Text
AUTORES: Javier Munoz Garcia; Luis Vazquez; Mario Castro; Raul Gago; Andres Redondo Cubero; Ana Moreno Barrado; Rodolfo Cuerno;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING R-REPORTS, VOLUME: 86
INDEXADO EM: WOS
77
TÍTULO: Influence of lateral and in-depth metal segregation on the patterning of ohmic contacts for GaN-based devices  Full Text
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Vázquez, L; Alves, LC; Corregidor, V; Romero, MF; Pantellini, A; Lanzieri, C; Muñoz, E;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 47, NÚMERO: 18
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78
TÍTULO: Self-organized nanopatterning of silicon surfaces by ion beam sputtering  Full Text
AUTORES: Javier Muñoz-García; Luis Vázquez; Mario Castro; Raúl Gago; Andrés Redondo-Cubero; Ana Moreno-Barrado; Rodolfo Cuerno;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: Materials Science and Engineering: R: Reports, VOLUME: 86
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NO MEU: ORCID
79
TÍTULO: Self-organized nanopatterning of silicon surfaces by ion beam sputtering
AUTORES: Javier Muñoz García; Luis Vázquez; Mario Castro; Raúl Gago; Andrés Redondo Cubero; Ana Moreno Barrado; Rodolfo Cuerno;
PUBLICAÇÃO: 2014, FONTE: Materials Science and Engineering R: Reports, VOLUME: 86
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80
TÍTULO: X-ray absorption near-edge structure of hexagonal ternary phases in sputter-deposited TiAlN films  Full Text
AUTORES: Gago, R; Soldera, F; Huebner, R; Lehmann, J; Munnik, F; Vazquez, L; Redondo Cubero, A; Endrino, JL;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, VOLUME: 561
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