Eduardo Jorge da Costa Alves
AuthID: R-000-4EK
281
TÃTULO: On the origin of strain relaxation in epitaxial CdZnO layers
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Rodrigues, J; Brandt, M; Schäfer, P; Henneberger, F; Correia, MR; Monteiro, T; Alves, E; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Oxide-based Materials and Devices IV
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Rodrigues, J; Brandt, M; Schäfer, P; Henneberger, F; Correia, MR; Monteiro, T; Alves, E; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: Oxide-based Materials and Devices IV
282
TÃTULO: Structural characterization of salivary calculi
AUTORES: Pedro Nolasco; Patricia Almeida Carvalho ; Fernando Cabrita; Eduardo Carreiro Costa; Ana Jacome dos Anjos; Joao Manuel A Aquino Marques; Antonio Pedro A Alves de Matos ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2nd IEEE Portuguese Meeting in Bioengineering (ENBENG) in 2012 IEEE 2ND PORTUGUESE MEETING IN BIOENGINEERING (ENBENG)
AUTORES: Pedro Nolasco; Patricia Almeida Carvalho ; Fernando Cabrita; Eduardo Carreiro Costa; Ana Jacome dos Anjos; Joao Manuel A Aquino Marques; Antonio Pedro A Alves de Matos ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 2nd IEEE Portuguese Meeting in Bioengineering (ENBENG) in 2012 IEEE 2ND PORTUGUESE MEETING IN BIOENGINEERING (ENBENG)
283
TÃTULO: High precision determination of the InN content of Al1−xInxN thin films by Rutherford backscattering spectrometry Full Text
AUTORES: Magalhães, S; N.P Barradas; Alves, E; I.M Watson; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 273
AUTORES: Magalhães, S; N.P Barradas; Alves, E; I.M Watson; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 273
284
TÃTULO: Incorporation of N in TiO2 films grown by DC-reactive magnetron sputtering Full Text
AUTORES: Sério, S; M.E Melo Jorge; Nunes, Y ; N.P Barradas; Alves, E; Munnik, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 273
AUTORES: Sério, S; M.E Melo Jorge; Nunes, Y ; N.P Barradas; Alves, E; Munnik, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, VOLUME: 273
285
TÃTULO: Analysis of multifunctional titanium oxycarbide films as a function of oxygen addition Full Text
AUTORES: J.M Chappé; A.C Fernandes; Moura, C; Alves, E; N.P Barradas; Martin, N; J.P Espinós; Vaz, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Surface and Coatings Technology, VOLUME: 206, NÚMERO: 8-9
AUTORES: J.M Chappé; A.C Fernandes; Moura, C; Alves, E; N.P Barradas; Martin, N; J.P Espinós; Vaz, F;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Surface and Coatings Technology, VOLUME: 206, NÚMERO: 8-9
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TÃTULO: Single phase a-plane MgZnO epilayers for UV optoelectronics: substitutional behaviour of Mg at large contents Full Text
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Hierro, A; J.-M Chauveau; Lorenz, K; Tabares, G; Franco, N; Alves, E; Muñoz, E;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: CrystEngComm, VOLUME: 14, NÚMERO: 5
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Hierro, A; J.-M Chauveau; Lorenz, K; Tabares, G; Franco, N; Alves, E; Muñoz, E;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: CrystEngComm, VOLUME: 14, NÚMERO: 5
287
TÃTULO: Ion beams as a tool for the characterization of near-pseudomorphic CdZnO epilayers
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Brandt, M; Henneberger, F; Alves, E; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Oxide-based Materials and Devices III
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Brandt, M; Henneberger, F; Alves, E; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: Oxide-based Materials and Devices III
288
TÃTULO: The influence of bed roughness on the dynamics of gravity currents
AUTORES: Nogueira, HIS; Adduce, C; Alves, E; Franca, MJ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 6th International Conference on Fluvial Hydraulics (River Flow) in RIVER FLOW 2012, VOLS 1 AND 2
AUTORES: Nogueira, HIS; Adduce, C; Alves, E; Franca, MJ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: 6th International Conference on Fluvial Hydraulics (River Flow) in RIVER FLOW 2012, VOLS 1 AND 2
INDEXADO EM: WOS
289
TÃTULO: THE NEW EC TECHNICAL RECOMMENDATIONS FOR MONITORING INDIVIDUALS OCCUPATIONALLY EXPOSED TO EXTERNAL RADIATION
AUTORES: Alves, JG; Ambrosi, P; Bartlett, DT; Currivan, L; van Dijk, JWE; Fantuzzi, E; Kamenopoulou, V;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 144, NÚMERO: 1-4
AUTORES: Alves, JG; Ambrosi, P; Bartlett, DT; Currivan, L; van Dijk, JWE; Fantuzzi, E; Kamenopoulou, V;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 144, NÚMERO: 1-4
290
TÃTULO: PRELIMINARY ASSESSMENT OF THE DOSE TO THE INTERVENTIONAL RADIOLOGIST IN FLUORO-CT-GUIDED PROCEDURES
AUTORES: Pereira, MF; Alves, JG; Sarmento, S; Santos, JAM ; Sousa, MJ; Gouvea, M; Oliveira, AD; Cardoso, JV; Santos, LM;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 144, NÚMERO: 1-4
AUTORES: Pereira, MF; Alves, JG; Sarmento, S; Santos, JAM ; Sousa, MJ; Gouvea, M; Oliveira, AD; Cardoso, JV; Santos, LM;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 144, NÚMERO: 1-4