Fabian Vargas
AuthID: R-00F-VMY
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TÃTULO: Exploiting parametric power supply and/or temperature variations to improve fault tolerance in digital circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium in 14TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium in 14TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
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TÃTULO: Power-Supply Instability Aware Clock Signal Modulation for Digital Integrated Circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Moraes, M; Mallmann, M; Antunes, C ; Rocha, L; Benfica, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, IC ; Rodriguez Andina, JJR; Teixeira, JP; Lupi, D; Gatti, E; Garcia, L; Hernandez, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: International Symposium on Electromagnetic Compatibility in 2008 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC EUROPE)
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Moraes, M; Mallmann, M; Antunes, C ; Rocha, L; Benfica, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, IC ; Rodriguez Andina, JJR; Teixeira, JP; Lupi, D; Gatti, E; Garcia, L; Hernandez, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: International Symposium on Electromagnetic Compatibility in 2008 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC EUROPE)
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TÃTULO: Delay modeling for power noise and temperature-aware design and test of digital systems
AUTORES: Freijedo, JF; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
AUTORES: Freijedo, JF; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
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TÃTULO: Time Management for Low-Power Design of Digital Systems
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, JF; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, JF; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
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TÃTULO: Enhancing the tolerance to power-supply instability in digital circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez J R Andina; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: IEEE-Computer-Society Annual Symposium on VLSI in IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI, PROCEEDINGS: EMERGING VLSI TECHNOLOGIES AND ARCHITECTURES
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez J R Andina; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: IEEE-Computer-Society Annual Symposium on VLSI in IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI, PROCEEDINGS: EMERGING VLSI TECHNOLOGIES AND ARCHITECTURES
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TÃTULO: On-line dynamic delay insertion to improve signal integrity in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 13th IEEE International On-Line Testing Symposium in 13TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM PROCEEDINGS
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 13th IEEE International On-Line Testing Symposium in 13TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM PROCEEDINGS
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TÃTULO: Improving the tolerance of pipeline based circuits to power supply or temperature variations
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems, DFT 2007 in Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems, DFT 2007 in Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
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TÃTULO: Dynamic fault detection in digital systems using dynamic voltage scaling and multi-temperature schemes
AUTORES: Rodriguez Irago, M; Andina, JJR; Vargas, F; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium in Proceedings - IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, VOLUME: 2006
AUTORES: Rodriguez Irago, M; Andina, JJR; Vargas, F; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium in Proceedings - IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, VOLUME: 2006
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TÃTULO: Dynamic fault test and diagnosis in digital systems using multiple clock schemes and multi-VDD test
AUTORES: Rodriguez Irago, M; Andina, JJR; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 11th IEEE International On-Line Testing Symposium in 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, VOLUME: 2005
AUTORES: Rodriguez Irago, M; Andina, JJR; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 11th IEEE International On-Line Testing Symposium in 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, VOLUME: 2005
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