Judit Fernández Freijedo
AuthID: R-001-MJC
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TÃTULO: Delay-Fault Tolerance to Power Supply Voltage Disturbances Analysis in Nanometer Technologies Full Text
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium in 2009 15TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium in 2009 15TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM
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TÃTULO: Exploiting parametric power supply and/or temperature variations to improve fault tolerance in digital circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium in 14TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium in 14TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
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TÃTULO: Robust Solution for Synchronous Communication among Multi Clock Domains
AUTORES: Jorge Semião ; Varela, J ; Freijedo, J; Andina, J; Leong, C; Teixeira, JP ; Teixeira, I ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS 2008) in 2008 IEEE ASIA PACIFIC CONFERENCE ON CIRCUITS AND SYSTEMS (APCCAS 2008), VOLS 1-4
AUTORES: Jorge Semião ; Varela, J ; Freijedo, J; Andina, J; Leong, C; Teixeira, JP ; Teixeira, I ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS 2008) in 2008 IEEE ASIA PACIFIC CONFERENCE ON CIRCUITS AND SYSTEMS (APCCAS 2008), VOLS 1-4
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TÃTULO: Power-Supply Instability Aware Clock Signal Modulation for Digital Integrated Circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Moraes, M; Mallmann, M; Antunes, C ; Rocha, L; Benfica, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, IC ; Rodriguez Andina, JJR; Teixeira, JP; Lupi, D; Gatti, E; Garcia, L; Hernandez, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: International Symposium on Electromagnetic Compatibility in 2008 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC EUROPE)
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Moraes, M; Mallmann, M; Antunes, C ; Rocha, L; Benfica, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, IC ; Rodriguez Andina, JJR; Teixeira, JP; Lupi, D; Gatti, E; Garcia, L; Hernandez, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: International Symposium on Electromagnetic Compatibility in 2008 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC EUROPE)
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TÃTULO: Delay modeling for power noise and temperature-aware design and test of digital systems
AUTORES: Freijedo, JF; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
AUTORES: Freijedo, JF; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: 
Scopus 
CrossRef
Scopus CrossRef16
TÃTULO: Time Management for Low-Power Design of Digital Systems
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, JF; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, JF; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
Scopus CrossRef17
TÃTULO: Enhancing the tolerance to power-supply instability in digital circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez J R Andina; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: IEEE-Computer-Society Annual Symposium on VLSI in IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI, PROCEEDINGS: EMERGING VLSI TECHNOLOGIES AND ARCHITECTURES
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez J R Andina; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: IEEE-Computer-Society Annual Symposium on VLSI in IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI, PROCEEDINGS: EMERGING VLSI TECHNOLOGIES AND ARCHITECTURES
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TÃTULO: Improving tolerance to power-supply and temperature variations in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodiriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 10th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodiriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 10th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
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TÃTULO: On-line dynamic delay insertion to improve signal integrity in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 13th IEEE International On-Line Testing Symposium in 13TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM PROCEEDINGS
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 13th IEEE International On-Line Testing Symposium in 13TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM PROCEEDINGS
