Toggle navigation
Publicações
Investigadores
Instituições
0
Entrar
Autenticação Federada
(Clique na imagem)
Autenticação local
Recuperar Palavra-passe
Registar
Entrar
Marcelino Bicho dos Santos
AuthID:
R-000-A9P
Publicações
Confirmadas
Para Validar
Document Source:
All
Document Type:
Todos os Tipos de Documentos
Proceedings Paper (48)
Article (30)
Review (3)
Article in Press (1)
Year Start - End:
1991
1992
1993
1994
1995
1996
1997
1998
1999
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
2007
2008
2009
2010
2011
2012
2013
2014
2015
2016
2017
2018
2019
2020
2021
2022
2023
2024
-
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
1995
1994
1993
1992
1991
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 82
1
TÃTULO:
A Self-Calibrated 10-bit 1 MSps SAR ADC with Reduced-Voltage Charge-Sharing DAC
AUTORES:
Taimur Rabuske
;
Jorge Fernandes
;
Fabio Rabuske
; Cesar Rodrigues;
Marcelino B dos Santos
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
in
2013 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (ISCAS)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
2
TÃTULO:
Activic: Design-based automatic characterization of mixed-signal integrated circuits
AUTORES:
Moita, TH
;
Almeida, CB
;
Dos Santos, MB
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
Journal of Low Power Electronics,
VOLUME:
9,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
3
TÃTULO:
Process Variations-Aware Statistical Analysis Framework for Aging Sensors Insertion
Full Text
AUTORES:
Vazquez, JC; Champac, V;
Jorge Semião
;
Teixeira, IC
;
Santos, MB
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,
VOLUME:
29,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
4
TÃTULO:
Ultra low power capless LDO with dynamic biasing of derivative feedback
Full Text
AUTORES:
Jorge Esteves
;
Joao Pereira
;
Julio Paisana
;
Marcelino Santos
;
PUBLICAÇÃO:
2013
,
FONTE:
MICROELECTRONICS JOURNAL,
VOLUME:
44,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
5
TÃTULO:
Aging-Aware Power or Frequency Tuning With Predictive Fault Detection
Full Text
AUTORES:
Jackson Pachito
;
Celestino V Martins
; Bruno Jacinto;
Isabel C Teixeira
;
Joao Paulo Teixeira
;
Jorge Semião
; Julio C Vazquez; Victor Champac;
Marcelino B Santos
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS,
VOLUME:
29,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
6
TÃTULO:
An Ultra-Low Noise Current Source For Magnetoresistive Biosensors Biasing
AUTORES:
Tiago Costa
;
Moises S Piedade
;
Marcelino Santos
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
IEEE Biomedical Circuits and Systems Conference (BioCAS)
in
2012 IEEE BIOMEDICAL CIRCUITS AND SYSTEMS CONFERENCE (BIOCAS): INTELLIGENT BIOMEDICAL ELECTRONICS AND SYSTEM FOR BETTER LIFE AND BETTER ENVIRONMENT
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
7
TÃTULO:
Modeling of inherent losses of fully integrated switched capacitor DC-DC converters
AUTORES:
Sadio, V; Rein, F; Munker, C;
Santos, M
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
Journal of Low Power Electronics,
VOLUME:
8,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
8
TÃTULO:
The Influence of Clock-Gating On NBTI-Induced Delay Degradation
AUTORES:
Pachito, J; Martins, CV;
Jorge Semião
;
Santos, M
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2012
,
FONTE:
IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS)
in
2012 IEEE 18TH INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM (IOLTS)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
9
TÃTULO:
A low-noise CMOS front-end for TOF-PET
AUTORES:
Rolo, MD
;
Alves, LN
;
Martins, EV
; Rivetti, A;
Santos, MB
;
Varela, J
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
JOURNAL OF INSTRUMENTATION,
VOLUME:
6,
NÚMERO:
9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
6
NO MEU:
ORCID
10
TÃTULO:
Adaptive Error-Prediction Flip-flop for Performance Failure Prediction with Aging Sensors
AUTORES:
Martins, CV;
Jorge Semião
; Vazquez, JC;
Champac, V
;
Santos, M
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV)
in
2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
Adicionar à lista
Marked
Marcar Todas
Exportar
×
Publication Export Settings
BibTex
EndNote
APA
CSV
PDF
Export Preview
Print
×
Publication Print Settings
HTML
PDF
Print Preview
Página 1 de 9. Total de resultados: 82.
<<
<
1
2
3
4
5
6
7
8
9
>
>>
×
Selecione a Fonte
Esta publicação tem:
2 registos no
ISI
2 registos no
SCOPUS
2 registos no
DBLP
2 registos no
Unpaywall
2 registos no
Openlibrary
2 registos no
Handle
Por favor selecione o registo que deve ser utilizado pelo Authenticus.
×
Comparar Publicações
© 2024 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved
Política de Privacidade
|
Terms of Service